[发明专利]一种基于同步辐射Q-XAS对砷与铬的氧化还原反应速率进行监测的方法在审
| 申请号： | 202110032382.6 | 申请日： | 2021-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN112858355A | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | 王小明;应虹;冯雄汉;黄巧云;刘凡 | 申请（专利权）人： | 华中农业大学 |
| 主分类号： | G01N23/083 | 分类号： | G01N23/083 |
| 代理公司： | 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 | 代理人： | 徐绍新 |
| 地址： | 430070 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 同步 辐射 xas 氧化 还原 反应 速率 进行 监测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于同步辐射Q-XAS对砷与铬的氧化还原反应速率进行监测的方法，其特征在于包括以下步骤：
(1)将含Cr(VI)和As(III)的悬液加入到侧面以透明薄膜密封的开口反应器中，加入背景电解质后开始反应并通过透明薄膜对悬液进行X射线扫描，采集As或Cr的K-边XAS光谱，连续采集直到反应结束；
(2)将采集的光谱通过Athena软件进行预处理和线性拟合，得到目标元素形态含量随时间的变化，而后利用动力学方程对数据点进行拟合，即可得到As(III)与Cr(VI)发生氧化还原反应的速率常数，
其中，每个光谱的扫描范围为边前200eV到边后600eV，由于As的K边能量为11.869keV，因此扫描范围设定为11.67-12.47keV；由于Cr的K边能量为5.989keV，因此扫描范围设定为5.79-6.59keV，
所设置的扫描步长和时间如下所示：
2.如权利要求1所述基于同步辐射Q-XAS对砷与铬的氧化还原反应速率进行监测的方法，其特征在于：所述透明薄膜为Kapton膜。
3.如权利要求1所述基于同步辐射Q-XAS对砷与铬的氧化还原反应速率进行监测的方法，其特征在于：所述背景电解质为0.05M NaNO3。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中农业大学，未经华中农业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110032382.6/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
