[发明专利]一种自动测试设备测试激励输出通道的扩展方法及装置

说明书

本发明公开了一种自动测试设备测试激励输出通道的扩展方法及装置，方法通过高速时序控制器生成N通道测试激励向量，协同控制高速采样输出保持继电器电路组将测试激励单输出通道的测试激励信号扩展为N个通道的测试激励信号，其中N为大于等于2的整数，装置包括：高速时序控制器、测试激励单输出通道、高速采样输出保持继电器电路组，其中高速采样输出保持继电器电路组包括N组高速采样输出保持电路和继电器电路的组合；本发明可以节省测试激励输出通道资源，降低自动测试设备的结构复杂度和成本，并能增加自动测试设备测试激励输出通道的数目。

技术领域

本发明涉及自动测试设备仪器技术领域，尤其是涉及一种自动测试设备测试激励输出通道的扩展方法及装置。

背景技术

自动测试设备中可以产生测试激励的通道数量跟测试设备的等级有关，低端的测试设备往往只有一个测试激励通道，中端的测试设备一般有8个或16个测试激励通道，只有高端的测试设备才会采用per pin的结构，配备独立的测试激励通道，测试激励通道的数目也会高达256个以上。

在使用自动测试设备时，若使用低端或中端的测试设备，因其测试激励通道数目有限，只能通过共享的方式逐次使用，在需要同时使用时，无法满足测试要求，因此必需采用高端的测试设备才能完成测试。

发明内容

为解决现有技术的不足，实现单测试激励输出通道扩展为2个以上各通道的目的，本发明采用如下的技术方案：

一种自动测试设备测试激励输出通道的扩展方法，包括如下步骤：

S1：高速时序控制器生成N通道测试激励向量和测试激励向量时序表；

S2：高速时序控制器根据测试激励向量时序表控制测试激励单输出通道输出所要保持通道的测试激励时序信号；

S3：所要保持通道继电器打开，将测试激励时序信号输送至待测芯片DUT端；

S4：关闭所要保持通道继电器电路，打开高速输出保持电路，保持所要保持通道的测试激励时序信号；

S5：将所要保持通道的通道号加入保持时间队列，根据保持时间队列中所要保持通道的先后顺序刷新各所要保持通道的测试激励时序信号；

S6：重复步骤S2~S5，至N通道测试激励向量输出完毕。

进一步的，所述步骤S5具体包括如下步骤：

S51：将所要保持通道的通道号x根据所述测试激励向量时序表中定义的先后顺序依次加入所述保持时间队列中；

S52：所述高速时序控制器在所述测试激励单输出通道输出测试激励信号空闲时，将所述测试激励单输出通道接入所述保持时间队列头中保存的通道号所对应的通道，重新刷新保持时间；

S53：将所述保持时间队列中的队列的通道号x从所述保持时间队列头中删除并重新加入队列尾中。

进一步的，所述步骤S1中的高速时序控制器的工作频率大于等于1GHz。

进一步的，所述步骤S1中的N为大于等于2的整数。

进一步的，所述步骤S2中的测试激励时序信号的脉冲幅值范围为0~10V，脉冲宽度大于等于10ns。

进一步的，所述步骤S4中高速输出保持电路为高速采样输出保持电路，采样时间小于等于1ns，保持时间大于等于100us。

一种自动测试设备测试激励输出通道的扩展装置，包括高速时序控制器、测试激励单输出通道、高速输出保持继电器电路组，所述高速输出保持继电器电路组包括N组高速输出保持电路和继电器电路的组合，高速时序控制器根据其生成的测试激励向量时序表控制测试激励单输出通道输出所要保持通道的测试激励时序信号，时序信号分别接入N组高速输出保持电路和继电器电路的组合，当需要一组输出时序信号时，首先将该组的继电器打开，将时序信号输送给待测芯片DUT端，然后关闭继电器并启动高速输出保持电路，保持该组的输出信号，并能在下一个测试激励单输出通道输出间隙重新刷新该组的输出信号。