[发明专利]一种有机电致发光显示器的修复方法及存储介质

权利要求书

1.一种有机电致发光显示器的修复方法，其特征在于，包括以下步骤：

S01，将上述显示器通电，并降低驱动电路的电压，直至低于所述有机电致发光元件的发光阈值电压；

S02，根据所述有机电致发光元件的点亮或熄灭状态，判断所述有机电致发光元件是否为常亮OLED像素；若否，结束；否则，进入下一步；

S03，通过显微镜模块定位所述常亮OLED像素的位置；

S04，在所述常亮OLED像素上铺盖遮蔽掩膜版；

S05，通过辐照模块对所述常亮OLED像素进行辐照，之后返回步骤S02，继续判断所述有机电致发光元件是否为常亮OLED像素，直至所述显示器的没有任何缺陷的有机电致发光元件。

2.根据权利要求1所述的一种有机电致发光显示器的修复方法，其特征在于，在所述辐照模块发射的辐照光波的作用下，所述常亮OLED像素迅速衰减老化并成为不通透状态，当其被点亮时，形成暗色光源。

3.根据权利要求1所述的一种有机电致发光显示器的修复方法，其特征在于，所述遮蔽掩膜版上具有孔，所述孔的直径不大于所述常亮OLED像素的面积，所述孔的周边为不通透结构。

4.根据权利要求3所述的一种有机电致发光显示器的修复方法，其特征在于，所述孔的直径为10μm-100μm。

5.根据权利要求3所述的一种有机电致发光显示器的修复方法，其特征在于，所述孔的形状为圆形或矩形。

6.根据权利要求1所述的一种有机电致发光显示器的修复方法，其特征在于，所述辐照光波的波长为405nm的绿光，488nm的蓝光，或551/555nm的红光。

7.根据权利要求1所述的一种有机电致发光显示器的修复方法，其特征在于，所述辐照光波的波长为365nm的紫外光。

8.根据权利要求5所述的常亮OLED像素的修复方法，其特征在于，所述显微镜模块包括图像采集系统为高精度、高分辨率的图像采集系统，所述图像采集系统的分辨率为2000W像素以上。

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有可适于处理器执行的计算机指令，且所述计算机指令被所述处理器执行时实施如权利要求1-8任一项所述的一种常亮OLED像素的修复方法。