[发明专利]一种具有动态失调校准电路的比较器电路和电子设备

权利要求书

1.一种具有动态失调校准电路的比较器电路，其特征在于，包括：预放大器、第一动态失调校准电路、第二动态失调校准电路和比较器；

所述预放大器的正相输出端与所述比较器的第一输入端电连接，所述预放大器的反相输出端与所述比较器的第二输入端电连接；

以及，所述第一动态失调校准电路的输出端与所述预放大器的反相输出端电连接，所述第二动态失调校准电路的输出端与所述预放大器的正相输出端电连接；其中，所述第一动态失调校准电路用于自多个不同第一校准电流中确定目标第一校准电流输出至所述反相输出端，以校准所述反相输出端的失调反相输出电压至目标反相输出电压，及，所述第二动态失调校准电路用于自多个不同第二校准电流中确定目标第二校准电流输出至所述正相输出端，以校准所述正相输出端的失调正相输出电压至目标正相输出电压。

2.根据权利要求1所述的具有动态失调校准电路的比较器电路，其特征在于，预放大器包括：第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、第四晶体管、第一电阻、第二电阻、第一电流源和第二电流源；

所述第一晶体管的栅极接入正相输入电压，所述第一晶体管的第一端与所述第一电流源的第一端电连接，所述第一晶体管的第二端与所述反相输出端电连接，所述第一电流源的第二端接地；

所述第二晶体管的栅极接入正相参考电压，所述第二晶体管的第一端与所述第一电流源的第一端电连接，所述第二晶体管的第二端与所述正相输出端电连接；

所述第三晶体管的栅极接入反相参考电压，所述第三晶体管的第一端与所述第二电流源的第一端电连接，所述第三晶体管的第二端与所述反相输出端电连接，所述第二电流源的第二端接地；

所述第四晶体管的栅极接入反相输入电压，所述第四晶体管的第一端与所述第二电流源的第一端电连接，所述第四晶体管的第二端与所述正相输出端电连接；

所述第一电阻的第一端与电源电压端电连接，所述第一电阻的第二端与所述反相输出端电连接，所述第二电阻的第一端与所述电源电压端电连接，所述第二电阻的第二端与所述正相输出端电连接。

3.根据权利要求2所述的具有动态失调校准电路的比较器电路，其特征在于，所述预放大器还包括：第五晶体管和第六晶体管；

所述第五晶体管的第一端与所述反相输出端电连接，所述第五晶体管的第二端与所述第一晶体管和所述第三晶体管的第二端电连接，所述第五晶体管的栅极与所述电源电压端电连接；

所述第六晶体管的第一端与所述正向输出端电连接，所述第六晶体管的第二端与所述第二晶体管和所述第四晶体管的第二端电连接，所述第六晶体管的栅极与所述电源电压端电连接。

4.根据权利要求2所述的具有动态失调校准电路的比较器电路，其特征在于，所述预防大器还包括：第七晶体管；

所述第七晶体管的第一端与所述反相输出端电连接，所述第七晶体管的第二端与所述正相输出端电连接，所述第七晶体管的栅极接入常开控制信号。

5.根据权利要求2所述的具有动态失调校准电路的比较器电路，其特征在于，所述第一电阻和所述第二电阻的阻值相同。

6.根据权利要求2所述的具有动态失调校准电路的比较器电路，其特征在于，所述第一电流源和所述第二电流源输出的电流相同。

7.根据权利要求2所述的具有动态失调校准电路的比较器电路，其特征在于，所述第一晶体管、所述第二晶体管、所述第三晶体管和所述第四晶体管均为N型晶体管。

8.根据权利要求1所述的具有动态失调校准电路的比较器电路，其特征在于，所述第一动态失调校准电路和所述第二动态失调校准电路中任意一动态失调校准电路包括：第一镜像晶体管、第二镜像晶体管和数模转换器；

所述数模转换器的输入侧分别接入多个控制码，所述数模转换器的输出端与所述第一镜像晶体管的第二端电连接；

所述第一镜像晶体管的第二端与所述第一镜像晶体管的栅极和所述第二镜像晶体管的栅极电连接，所述第一镜像晶体管的第一端和所述第二镜像晶体管的第一端均与电源电压端电连接，所述第二镜像晶体管的第二端为所述动态失调校准电路的输出端。