[发明专利]自动对焦测试方法、装置、采样设备及系统

权利要求书

1.一种自动对焦测试方法，其特征在于，所述方法通过自动对焦测试采样设备实现，被测试终端放置于所述自动对焦测试采样设备的载物平台上，所述方法包括：

接收控制端发送的采样条件，所述采样条件包括采样位置信息；

控制所述载物平台移动，以使被测试终端到达所述采样位置信息所指示的位置；触发所述被测试终端的自动对焦功能，使所述被测试终端拍摄得到采样图片；

向控制端发送采样完成消息，以使控制端从所述被测试终端获得所述采样图片，确定自动对焦测试结果；

所述方法还包括：

获取手动模式下的所述载物平台的位置信息；

在根据所述位置信息确定所述载物平台到达所述采样位置信息指示的位置的情况下，向所述控制端发出位置到达成功消息，以使所述控制端根据所述位置到达成功消息控制所述自动对焦测试采样设备进行采样；

在根据所述位置信息确定所述载物平台不能到达所述采样位置信息指示的位置的情况下，向所述控制端发出位置到达失败消息，以使所述控制端根据所述位置到达失败消息重置所述采样条件。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采样条件还包括采样间隔和采样次数；

所述触发所述被测试终端的自动对焦功能，使所述被测试终端拍摄得到采样图片包括：

以所述自动对焦测试采样设备的触发挡板上升至预设位置时刻起，到达所述采样间隔后，控制所述触发挡板落下，并确定所述被测试终端完成一次采样操作；

在确定所述被测试终端完成采样操作的次数不小于所述采样次数后，控制所述载物平台移动，使所述被测终端到达下一个采样位置信息所指示的位置。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制所述载物平台移动，以使被测试终端到达所述采样位置信息所指示的位置包括：

获取校对距离，并根据校对距离对所述采样位置信息进行校对，得到校对位置信息，其中，所述校对距离是根据相机的镜头到所述自动对焦测试采样设备的测距仪的距离确定的；

控制所述载物平台移动，以使所述被测试终端到达所述校对位置信息所指示的位置。

4.一种自动对焦测试方法，所述方法用于控制端，其特征在于，包括：

获取采样条件，其中，所述采样条件包括采样位置信息，并将所述采样条件发送至所述自动对焦测试采样设备，以使所述自动对焦测试采样设备控制所述被测试终端到达所述采样位置信息所指示的位置；

在接收所述自动对焦测试采样设备发出的位置到达成功消息的情况下，向所述自动对焦测试采样设备发送开始采样指令；在接收所述自动对焦测试采样设备发出的采样成功消息的情况下，获取所述被测试终端获得的采样图片，并根据所述采样图片确定自动对焦测试结果；

在接收所述自动对焦测试采样设备发出的位置到达失败消息或采样失败消息的情况下，重置所述采样条件；

所述方法还包括：

获取手动模式下的所述自动对焦测试采样设备发出位置到达成功消息，并根据所述位置到达成功消息控制所述自动对焦测试采样设备进行采样；

获取手动模式下的所述自动对焦测试采样设备发出位置到达失败消息，并根据所述位置到达失败消息重置所述采样条件。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述采样条件还包括采样间隔和采样次数。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述获取采样条件，其中，所述采样条件包括采样位置信息，并将所述采样条件发送至所述自动对焦测试采样设备，以使所述自动对焦测试采样设备控制所述被测试终端到达所述采样位置信息所指示为位置还包括：

获取校对距离，并根据校对距离对所述采样位置信息进行校对，得到校对位置信息，其中，所述校对距离是根据相机的镜头到所述自动对焦测试采样设备的测距仪的距离确定的；

将所述校对位置发送至所述自动对焦测试采样设备，以使所述被测试终端到达所述校对位置信息所指示的位置。