[发明专利]一种芯片调试代理装置及芯片调试方法在审
| 申请号: | 202110022995.1 | 申请日: | 2021-01-08 |
| 公开(公告)号: | CN112631851A | 公开(公告)日: | 2021-04-09 |
| 发明(设计)人: | 侯建桥 | 申请(专利权)人: | 北京集睿致远科技有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26 |
| 代理公司: | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人: | 张沫 |
| 地址: | 100176 北京市大兴区北京经济*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 芯片 调试 代理 装置 方法 | ||
1.一种芯片调试代理装置,其特征在于,包括:
单片机调试板,用于对被调试芯片进行调试;
上位机,用于显示调试信息;
USB HID接口,用于连接有USB HID设备;
转换串口,用于将USB接口转换为单片机调试板的输出串口,以连接所述上位机与所述单片机调试板;
芯片调试接口,用于连接被调试芯片的AUX接口。
2.根据权利要求1所述的芯片调试代理装置,其特征在于:
所述USB HID设备包括控制端点、接收端点和发送端点;
其中,所述控制端点用于传输USB HID设备描述符、芯片读取命令或芯片写入命令,所述接收端点用于接收芯片数据,所述发送端点用于发送芯片数据。
3.根据权利要求1所述的芯片调试代理装置,其特征在于:
所述USB HID接口设置于所述单片机调试板;
所述USB HID接口设置有高速管脚和低速管脚,且所述高速管脚或所述低速管脚设置有上拉电阻;
其中,当无所述USB HID设备接入时,所述高速管脚和所述低速管脚均处于低电平;当有所述USB HID设备接入时,所述高速管脚或所述低速管脚处于高电平。
4.根据权利要求1所述的芯片调试代理装置,其特征在于,还包括:
屏幕接口,设置于所述单片机调试板,用于连接外部屏幕以显示连接信息。
5.根据权利要求1所述的芯片调试代理装置,其特征在于,还包括设置于所述单片机调试板的按键、拨码开关和指示灯。
6.一种芯片调试方法,应用于如权利要求1-5任一项所述的芯片调试代理装置,其特征在于,包括:
单片机调试板获取USB HID设备的USB HID设备描述符;其中,所述USB HID设备描述符包括设备描述符、配置描述符、接口描述符、端点描述符、字符串描述符、HID描述符、报告描述符和实体描述符;
所述单片机调试板基于所述USB HID设备描述符初始化所述USB HID设备,并确定接口模式为USB模式;
在所述单片机调试板启动芯片调试程序后,所述USB HID设备将芯片读取命令或芯片写入命令通过芯片调试接口发送至被调试芯片;
所述USB HID设备将从被调试芯片中得到的芯片数据发送至所述单片机调试板,以完成对被调试芯片的调试。
7.根据权利要求6所述的芯片调试方法,其特征在于,单片机调试板获取USB HID设备的USB HID设备描述符,之前还包括:
所述单片机调试板定时查询已连接的所述USB HID设备,并存储所述USB HID设备的连接状态。
8.根据权利要求6所述的芯片调试方法,其特征在于,所述USB HID设备将芯片读取命令或芯片写入命令通过芯片调试接口发送至被调试芯片,包括:
所述USB HID设备接收数据读取命令或数据写入命令;
所述USB HID设备将所述数据读取命令或所述数据写入命令转为芯片读取命令或芯片写入命令;
所述USB HID设备通过芯片调试接口发送所述芯片读取命令或所述芯片写入命令至被调试芯片。
9.根据权利要求8所述的芯片调试方法,其特征在于,所述USB HID设备通过芯片调试接口发送所述芯片读取命令或所述芯片写入命令至被调试芯片,包括:
所述USB HID设备的控制端点通过芯片调试接口向被调试芯片发送所述芯片读取命令,以从被调试芯片的寄存器中读取芯片数据;或
所述USB HID设备的控制端点通过芯片调试接口向被调试芯片发送所述芯片写入命令,以向被调试芯片写入寄存器配置。
10.根据权利要求6所述的芯片调试方法,其特征在于,所述USB HID设备将从被调试芯片中得到的芯片数据发送至所述单片机调试板,包括:
所述USB HID设备的接收端点接收从被调试芯片的寄存器中读取的芯片数据,并将所述芯片数据以USB数组的形式存储到USB缓存区;其中,所述USB数组定义有结构体指针,且该结构体指针指向所述USB缓存区;
所述USB HID设备的发送端点将所述USB缓存区的所述芯片数据发送至所述单片机调试板;其中,所述芯片数据包含数据有效位标记、命令位、读写要操作的目标地址位、读写要操作的长度位和可变数据位。
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