[发明专利]一种放射性核素衰变链各代子体活度计算方法

权利要求书

1.一种放射性核素衰变链各代子体活度计算公式的计算方法，其特征在于，所述计算方法包括：

S1、以某单一放射性核素在运输或长期储存中随时间衰变过程，其与其子代形成的混合物中各核素活度的求解方法；

S2、在已知某一物品中单一放射性核素母核的活度A₀及衰变常数λ₀，及其衰变链各放射性子核的衰变常数λ_i；

S3、代入计算公式中，即可求解出任意时刻t_i,该物品中各代衰变子体的活度A_i，为后续的屏蔽、临界安全评价工作提供源项数据；所述计算公式为：

n≥1  (1)

A_n(t)＝N_n(t)·λ_n  (2)

式中，A_n(t)：第n代放射性子体核素的活度(Bq)；

N_n(t)：第n代放射性子体核素的数量(无量纲)；

N_o：母体核素在t＝0时刻的数量(无量纲)；

λ_i：第i代放射性子体核素的衰变常数(s^-1)；

t：时间(s)。

2.根据权利要求1所述的一种放射性核素衰变链各代子体活度计算公式的计算方法，其特征在于，上述单一放射性核素为UF₆。