[发明专利]一种多工位测试分选设备

权利要求书

1.一种多工位测试分选设备，其特征在于，包括机架以及设于所述机架上的轨道机构、料盘搬运机构、上料机构、料船机构、检测机构和下料机构；

所述轨道机构包括平行设置的入料轨道、合格轨道、次品轨道、回测轨道和空盘轨道，所述入料轨道、所述合格轨道、所述次品轨道和所述回测轨道上均设有用于盛放芯片的装料盘，所述入料轨道用于传输待测芯片，所述合格轨道用于收集合格芯片，所述次品轨道用于收集次品芯片，所述回测轨道用于收集需回测芯片，所述空盘轨道用于收集不盛防芯片的空装料盘；

所述料盘搬运机构用于在所述轨道机构的各轨道之间搬运所述装料盘；

所述上料机构用于将待测芯片搬运至所述料船机构；

所述料船机构用于接收待测芯片和已测芯片；

所述检测机构用于对待测芯片进行检测；

所述下料机构用于将已测芯片从所述料船机构搬运至所述轨道机构。

2.根据权利要求1所述的多工位测试分选设备，其特征在于，所述入料轨道、所述合格轨道、所述次品轨道、所述回测轨道和所述空盘轨道的结构相同，所述入料轨道包括轨道本体、顶升组件、堆叠组件、动力组件和定位组件，所述顶升组件用于取放装料盘，所述堆叠组件用于收集装料盘，所述动力组件用于驱动所述装料盘沿所述轨道本体运动，所述定位组件包括侧推夹紧气缸和后推夹紧气缸，所述侧推夹紧气缸和后推夹紧气缸与所述轨道本体共同作用，实现装料盘定位。

3.根据权利要求1所述的多工位测试分选设备，其特征在于，所述料盘搬运机构包括X轴搬运组件、Z轴搬运组件以及装料盘抓手；

所述X轴搬运组件包括X轴搬运导轨、X轴搬运同步轮、X轴搬运同步带和X轴搬运电机，所述Z轴搬运组件可在所述X轴搬运电机的驱动下沿所述X轴搬运导轨运动；

所述Z轴搬运组件包括Z轴搬运导轨、Z轴搬运同步轮、Z走搬运同步带和Z轴搬运电机，所述装料盘抓手可在所述Z轴搬运电机的驱动下沿所述Z轴搬运导轨运动；

所述装料盘抓手用于抓取所述装料盘。

4.根据权利要求1所述的多工位测试分选设备，其特征在于，所述上料机构包括Y轴上料组件，X轴上料组件和上料抓手；

所述Y轴上料组件包括Y轴上料导轨、Y轴上料同步轮、Y轴上料同步带和Y轴上料电机，所述X轴上料组件可在所述Y轴上料电机的驱动下沿所述Y轴上料导轨运动；

所述X轴上料组件包括X轴上料导轨、X轴上料同步轮、X轴上料同步带和X轴上料电机，所述上料抓手可在所述X轴上料电机的驱动下沿所述X轴上料导轨运动；

所述上料抓手设有用于抓取芯片的上料吸嘴。

5.根据权利要求4所述的多工位测试分选设备，其特征在于，所述下料机构的结构与所述上料机构的结构相同。

6.根据权利要求1所述的多工位测试分选设备，其特征在于，所述检测机构包括Y轴检测组件、Z轴检测组件以及检测抓手；

所述Y轴检测组件包括Y轴检测导轨、Y轴检测同步带、Y轴检测同步轮和Y轴检测电机，所述Z轴检测组件可在所述Y轴检测电机的驱动下沿Y轴检测导轨运动；

所述Z轴检测组件包括Z轴检测导轨、Z轴检测同步带、Z轴检测同步轮和Z轴检测电机，所述检测抓手可在所述Z轴检测电机的驱动下沿所述Z轴检测导轨运动；

所述检测抓手设有若干个用于吸附芯片的检测吸嘴。

7.根据权利要求6所述的多工位测试分选设备，其特征在于，所述检测机构设有至多十六个检测位，所述检测抓手设有与所述检测位一一对应的浮动头。

8.根据权利要求1所述的多工位测试分选设备，其特征在于，所述料船机构包括上料船、下料船、料船导轨、料船同步轮、料船同步带和料船电机，所述上料船用于盛放所述上料机构抓取的待测芯片并等待所述检测机构抓取，所述下料船用于盛放所述检测机构抓取的已测芯片并等待所述下料机构抓取，所述上料船和所述下料船可在所述料船电机的驱动下沿所述料船导轨运动。

9.根据权利要求8所述的多工位测试分选设备，其特征在于，所述上料船和所述下料船设有用于盛放芯片的导向槽，所述导向槽最多设有十六个。