[发明专利]一种测量平面与基准对称度的测具及测量方法

权利要求书

1.一种测量平面与基准对称度的测具，包括矩形的测具底座（1），其特征在于：所述的测具底座（1）下部左右对称设置有第一L型块（8）和第二L型块（21），所述的第一L型块（8）和第二L型块（21）的顶部设置有V型槽，所述的第一L型块（8）的V型槽深度大于第二L型块（21）的V型槽深度，所述的第一L型块（8）和第二L型块（21）的中间测具底座（1）上设置有导套（24）；所述的导套（24）内设置有堵头螺钉（26），堵头螺钉（26）上套设有弹簧（27），弹簧（27）上设置有支撑块（25），支撑块（25）伸出于导套（24）顶部，所述的测具底座（1）上部左右对称设置有支撑螺钉一（16）和支撑螺钉二（20），所述的支撑螺钉一（16）和支撑螺钉二（20）的顶部分别设置有第一压板（13）和第二压板（17），第一压板（13）和第二压板（17）的另一端设置于第一L型块（8）和第二L型块（21）的高边上部，所述的第一压板（13）和第二压板（17）上分别设置有腰型槽，第一压板（13）的腰型槽内穿设有双头螺柱一（14），第二压板（17）的腰型槽内穿设有双头螺柱二（18），所述的第一压板（13）上的双头螺柱一（14）上设置有螺形螺母一（15），所述的第二压板（17）上的双头螺柱二（18）上设置有螺形螺母二（19），支撑螺钉一（16）和支撑螺钉二（20）中间的测具底座（1）上设置有测量块（28），测量块（28）与导套（24）设置于一条轴线上。

2.根据权利要求1所述的一种测量平面与基准对称度的测具，其特征在于：所述的支撑螺钉一（16）和支撑螺钉二（20）的轴线分别与第一L型块（8）和第二L型块（21）的高边的轴线在一条直线上。

3.根据权利要求1或2所述的一种测量平面与基准对称度的测具，其特征在于： 所述的第一L型块（8）的左侧设置有挡块（10），挡块（10）通过螺钉一（9）与第一L型块（8）连接。

4.根据权利要求3所述的一种测量平面与基准对称度的测具，其特征在于：所述的螺形螺母一（15）和螺形螺母二（19）下的双头螺柱一（14）和双头螺柱二（18）上设置有垫片。

5.根据权利要求1所述的一种测量平面与基准对称度的测具的测量方法，其特征在于：所述的方法步骤为：

1）：将测具底座（1）放在平整的工作台上，将被测零件（29）的大端定位圆放置于第一L型块（8）的V型槽内，零件（29）的小端定位圆放置于第二L型块（21）的V型槽内，使零件大端定位圆与第一L型块（8）的V型槽贴合，零件小端定位圆与第二L型块（21）的V型槽贴合；

2）：安装第一压板（13），使第一压板（13）的一端压紧零件（29）的大端定位圆，第一压板（13）的另一端放置在支撑螺钉一（16）上，拧紧螺形螺母一（15），使零件（29）的大端固定在第一L型块（8）上；

3）：安装第二压板（17），使第二压板（17）的一端压紧零件（29）的小端定位圆，第二压板（17）的另一端放置在支撑螺钉二（20）上，拧紧螺形螺母二（19），使零件（29）的小端固定在第二L型块（21）上，此时，零件（29）的大端定位面（B面）与支撑块（25）的上端面自动贴合；

4）：对比测量平面（A面）与测量块28的高度差，即为测量平面与基准的对称度。