[发明专利]基于在线监测的高强度抗菌瓦楞纸的制作方法有效
| 申请号: | 202110003222.9 | 申请日: | 2021-01-04 |
| 公开(公告)号: | CN112874021B | 公开(公告)日: | 2022-08-26 |
| 发明(设计)人: | 冯桂萍;施闻君 | 申请(专利权)人: | 义乌市义南纸业有限公司 |
| 主分类号: | B31F5/00 | 分类号: | B31F5/00;D21H27/10;D21H11/00;D21H17/17;D21H17/67;D21H21/10;B32B37/12;B32B38/00;G01B11/06 |
| 代理公司: | 金华市婺实专利代理事务所(普通合伙) 33340 | 代理人: | 胡恩晗 |
| 地址: | 322003 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 在线 监测 强度 抗菌 瓦楞纸 制作方法 | ||
1.基于在线监测的高强度抗菌瓦楞纸的制作方法,其特征在于:包括如下步骤:
步骤1:取芯层抗菌纸,通过热压将其压成波浪形;
步骤2:取第一辅助支撑层和第二辅助支撑层,通过胶黏剂将第一辅助支撑层和第二辅助支撑层黏贴在芯层抗菌纸的底面和顶面上;
步骤3:取第一面纸层和第二面纸层;第一面纸层通过胶黏剂黏贴在第二辅助支撑层的顶面上;第二面纸层通过胶粘剂黏贴在第一辅助支撑层的底面上;
步骤4:将步骤3中完成的瓦楞纸进行后端干燥后,通过在线厚度监测装置进行厚度监测;
步骤5:若发现瓦楞纸的厚度有异常,则发出警报;
厚度测量装置包括第一旋转厚度测量单元、第二旋转厚度测量单元、第三旋转厚度测量单元以及第四旋转厚度测量单元;第一旋转厚度测量单元、第二旋转厚度测量单元、第三旋转厚度测量单元以及第四旋转厚度测量单元依次沿纸板传输方向排列;
第一旋转厚度测量单元的测量区域为垂直于纸板传输方向的第一直线待测区;第二旋转厚度测量单元的测量区域为垂直于纸板传输方向的第二直线待测区;第三旋转厚度测量单元的测量区域为垂直于纸板传输方向的第三直线待测区;第四旋转厚度测量单元的测量区域为垂直于纸板传输方向的第四直线待测区;其中;第一直线待测区、第二直线待测区、第三直线待测区以及第四直线待测区沿纸板传输方向由前往后等距间隔排列;所述第一旋转厚度测量单元、第二旋转厚度测量单元、第三旋转厚度测量单元以及第四旋转厚度测量单元的结构一致;均包括测量辊组件以及支撑辊;所述测量辊组件包括测量辊本体,所述测量辊本体上设置有至少三组厚度测量组件;所述厚度测量组件包括固定板,所述固定板的两端固定连接于测量辊本体的内壁两端上,所述固定板上依次等距间隔排列有若干测量顶针,所述测量顶针穿过所述固定板其顶部连接有反射板;所述测量顶针的下端部上连接有连板,还包括弹性件,所述弹性件套接在顶针上其一端抵至连板上,另一端抵至固定板的底壁上;还包括微型激光发射器,所述微型激光发射器固定在测量辊本体的内壁上,并与顶针在同一轴线上,所述固定板上设置有陀螺仪传感器。
2.根据权利要求1所述的基于在线监测的高强度抗菌瓦楞纸的制作方法,其特征在于:所述芯层抗菌纸的制作方法,包括如下步骤:
步骤1:将针叶木浆和阔叶木浆按照质量比50-70:30-50比例进行配浆,浆料打浆后的打浆度:针叶木浆60-80°SR,阔叶木浆20~40°SR;
步骤2:取浆内施胶剂对浆料进行施胶,其中浆内施胶剂的组分包括烷基烯酮二聚体、碳量子点、纳米ZnO以及纳米CaCO3;
步骤3:加入助留剂0.1%-0.5%,经过网部脱水、压榨、前段干燥,再加入表面施胶剂PVA进行表面施胶,施胶量为1-2g/m 2 ,后进行后段干燥后经过压光形成成品。
3.根据权利要求1所述的基于在线监测的高强度抗菌瓦楞纸的制作方法,其特征在于:通过在线厚度监测装置对瓦楞纸进行厚度监测的方法,包括如下步骤:
S1:取瓦楞纸,通过厚度测量装置获取样品纸板上若干组纸板厚度数据,每组纸板厚度数据分别形成纸板厚度曲线;其中,每组纸板厚度数据包括若干沿垂直于纸板的输送方向,对应于纸板上单位点的厚度数值;
S2:将各组纸板厚度数据求取平均值,得到纸板沿垂直于纸板的输送方向的各单位点的平均厚度曲线;作为标准对比曲线;
S3:正常生产时,通过厚度测量装置在与样品纸板同一批次的纸板上获取若干组纸板厚度数据;其中每组的纸板厚度数据包括若干沿垂直于纸板的输送方向,对应于纸板上单位点的厚度数值;每组纸板厚度数据形成施胶后实际厚度曲线;
S4:将各组实际厚度曲线求取平均值;得到实际生产中纸板上沿垂直于纸板的输送方向的各单位点的实际平均厚度曲线;
S5:将实际平均厚度曲线与标准对比曲线对比,当实际平均厚度曲线的数值超出标准对比曲线的阈值时;发出警报。
4.根据权利要求1所述的基于在线监测的高强度抗菌瓦楞纸的制作方法,其特征在于:第一直线待测区、第二直线待测区、第三直线待测区以及第四直线待测区均包括至少3组直线待测单元。
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