[发明专利]一种通过IO引脚测量芯片的测量电路

权利要求书

1.一种通过IO引脚测量芯片的测量电路，其特征在于，包括：限流电路、开关电路、上拉电路、分压控制电路和直通控制电路；

所述限流电路的第一端与IO引脚电连接，所述限流电路的第二端与所述开关电路电连接；

所述开关电路用于响应开启控制信号的第一电平，而控制所述上拉电路的输出端、所述分压控制电路的输出端和所述直通控制电路的输出端与所述限流电路的第二端之间连通；

所述上拉电路的输入端与电源电压端电连接，所述上拉电路用于响应所述开启控制信号的第一电平，而控制所述电源电压端与所述上拉电路的输出端之间断开；

以及，所述分压控制电路的输入端与测量节点电连接，所述测量节点用于接入待测模拟量，所述待测模拟量为所述芯片的第一待测正电压、第二待测正电压或待测电流，所述分压控制电路用于在所述待测模拟量为所述第一待测正电压时，响应所述开启控制信号的第一电平，而对所述第一待测正电压分压至预设电压后输出，所述预设电压处于所述电源电压端的电压域；所述直通控制电路用于在所述待测模拟量为所述第二待测正电压或所述待测电流时，响应直通控制信号的第一电平，而将所述待测模拟量输出，所述第一待测正电压大于所述电源电压端输出电压，所述第二待测正电压小于所述电源电压端输出电压；

所述分压控制电路包括：第二电平移位器、分压电路、第五晶体管、第六晶体管和第二与非门；

所述第二电平移位器的控制端接入所述第二与非门的输出端，所述第二电平移位器的输入端接入第二使能电平信号，所述第二电平移位器的第一输出端与所述第五晶体管的控制端电连接，所述第二电平移位器的第二输出端与所述第六晶体管的控制端电连接；

所述第五晶体管的第一端与所述测量节点电连接，所述第五晶体管的第二端与所述分压电路的第一端电连接，所述分压电路的第二端与所述第六晶体管的第一端电连接，所述第六晶体管的第二端与接地端电连接，所述分压电路的输出端为所述分压控制电路的输出端；

所述第二与非门的第一输入端接入所述开启控制信号，所述第二与非门的第二输入端接入测试控制信号，所述第二与非门的输出端与所述第二电平移位器的控制端电连接；

在所述待测模拟量为所述第一待测正电压时，所述第二电平移位器响应所述第二与非门的输出信号，而控制所述第二使能电平信号通过所述第二电平移位器的第二输出端输出，且控制与所述第二使能电平信号的电平相反的第三使能电平信号通过所述第二电平移位器的第一输出端输出，所述第五晶体管响应所述第三使能电平信号而导通，所述第六晶体管响应所述第二使能电平信号而导通。

2.根据权利要求1所述的通过IO引脚测量芯片的测量电路，其特征在于，所述限流电路包括限流电阻，所述限流电阻的第一端与IO引脚电连接，所述限流电阻的第二端与所述开关电路电连接。

3.根据权利要求1所述的通过IO引脚测量芯片的测量电路，其特征在于，所述开关电路包括：第一晶体管、第二晶体管和第一反相器，所述第一晶体管和所述第二晶体管的导通类型相反；

所述第一晶体管的第一端和所述第二晶体管的第一端均连接所述限流电路的第二端，所述第一晶体管的第二端和所述第二晶体管的第二端均连接所述上拉电路的输出端和所述分压控制电路的输出端，所述第一晶体管的控制端与所述第一反相器的输出端电连接，所述第一反相器的输入端接入所述开启控制信号，所述第二晶体管的控制端接入所述开启控制信号。

4.根据权利要求3所述的通过IO引脚测量芯片的测量电路，其特征在于，所述开关电路还包括：第一电平移位器和第三晶体管；

所述第一电平移位器的控制端接入所述开启控制信号，所述第一电平移位器的输入端接入第一使能电平信号，所述第一电平移位器的第一输出端浮置，所述第一电平移位器的第二输出端与所述第三晶体管的控制端电连接，所述第三晶体管的第一端与所述第一晶体管的第二端、所述第二晶体管的第二端和所述上拉电路的输出端电连接，所述第三晶体管的第二端与所述分压控制电路的输出端电连接；

所述第一电平移位器用于响应所述开启控制信号的第一电平，而控制所述第一使能电平信号通过所述第一电平移位器的第二输出端输出，所述第三晶体管响应所述第一使能电平信号而导通。