[发明专利]用于多光束光学相干断层扫描的系统、方法和介质在审
| 申请号: | 202080088496.6 | 申请日: | 2020-12-21 |
| 公开(公告)号: | CN114846292A | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
| 发明(设计)人: | B·瓦科克;Y·金 | 申请(专利权)人: | 通用医疗公司 |
| 主分类号: | G01B9/02018 | 分类号: | G01B9/02018 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 钱慰民;张鑫 |
| 地址: | 美国马*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 光束 光学 相干 断层 扫描 系统 方法 介质 | ||
1.一种用于多光束光学相干断层扫描的系统,包括:
样本臂,所述样本臂被光学地配置成用于被耦合到光源,所述样本臂包括:
第一光纤,所述第一光纤包括远端和被光学耦合到所述光源的近端,
第一分路器,所述第一分路器被光学耦合到所述第一光纤的所述远端并且被光学耦合到第一多个光纤中的每一个的近端,其中所述第一多个光纤包括n个光纤,以及
第一多个光学部件,所述第一多个光学部件被配置成用于:
从所述多个光纤接收相应的多个光束,
使所述多个光束朝向样本发射,
接收来自所述样本的多个反向散射光样本,
其中,所述多个反向散射光样本在空间上是分开的,并且
其中,所述多个反向散射光样本中的每一个对应于所述第一多个光束中的一个,并且
将所述多个反向散射光样本引导朝向检测器;
参考臂,所述参考臂被光学耦合到所述光源,所述参考臂包括:
第二光纤,所述第二光纤包括远端和被光学耦合到所述光源的近端,以及
第二分路器,所述第二分路器被光学耦合到所述第二光纤的所述远端并且被光学耦合到第二多个光纤中的每一个的近端,其中所述第二多个光纤包括n个光纤;
第二多个光学部件,所述第二多个光学部件被配置成用于:
将所述多个反向散射光样本中的每一个与由所述第二多个光纤中的对应光纤发射的光束进行组合,产生多个条纹,并且
将所述多个条纹中的每一个引导到所述检测器的对应通道;以及
所述检测器,所述检测器包括多个检测通道,所述检测器被配置成用于输出光学相干断层扫描数据,所述光学相干断层扫描数据指示在生成所述多个反向散射光样本的多个位置处的所述样本的结构。
2.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述光源是波长扫描激光器。
3.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述光源是波长步进频率梳源。
4.如权利要求1-3中任一项所述的系统,其特征在于,所述样本臂进一步包括:
第一空间分离器,所述第一空间分离器被机械耦合到所述第一多个光纤中的每个光纤的远端。
5.如权利要求4所述的系统,其特征在于,所述第一空间分离器包括V形槽组件。
6.如权利要求1-3中任一项所述的系统,其特征在于,所述参考臂进一步包括:
第二空间分离器,所述第二空间分离器被机械耦合到所述第二多个光纤中的每个光纤的远端。
7.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述特定光谱范围以1300纳米为中心。
8.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述第一分路器包括平面光波电路分路器,所述平面光波电路分路器接收来自所述第一光纤的光并将接收到的光分成n个输出。
9.如权利要求1-3、6或7中任一项所述的系统,其特征在于,所述第一多个光学部件包括:
第一透镜,所述第一透镜具有被光学耦合到所述第一多个光纤的第一侧、和第二侧,其中所述第一透镜被配置成用于将所述多个光束聚焦在与所述第一透镜的焦距相对应的第一焦点距离处;
表面,所述表面被配置成用于将从所述第一透镜的第二侧接收的光重新引导朝向第二透镜的第一侧并且将从所述第二透镜的第一侧接收的光重新引导朝向所述第一透镜的第二侧;
所述第二透镜,所述第二透镜具有:被光学耦合到所述表面的第一侧、以及被配置成用于将从所述表面接收的光引导朝向所述样本并接收来自所述样本的多个反向散射光样本的第二侧。
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