[发明专利]用于检测薄膜幅材中的局部增厚的测量装置和方法在审
申请号: | 202080085585.5 | 申请日: | 2020-12-07 |
公开(公告)号: | CN114761339A | 公开(公告)日: | 2022-07-15 |
发明(设计)人: | A·保卢斯;K·迈耶;J·尼克尔;J·霍特曼 | 申请(专利权)人: | 科思创知识产权两合公司 |
主分类号: | B65H26/02 | 分类号: | B65H26/02;B29C48/355;B29C48/92;B29C48/00;B29C48/21 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 臧永杰;刘春元 |
地址: | 德国勒*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 薄膜 中的 局部 测量 装置 方法 | ||
1.一种用于检测薄膜幅材(20)、尤其是挤出薄膜和/或共挤薄膜中的局部增厚的测量装置,所述测量装置具有
用于在可沿着移动的薄膜幅材(20)处滚压的第一辊(14),
用于在可沿着移动的薄膜幅材(20)处滚压的第二辊(18),所述第二辊能够间接地通过所述薄膜幅材(20)支撑在所述第一辊(14)处,
其中所述第二辊(18)在可沿着移动的薄膜幅材(20)的厚度方向上、尤其是在垂直方向上柔性地被引导,以及
相对于所述第一辊(14)和/或相对于可沿着移动的薄膜幅材(20)位置固定的用于检测所述第二辊(18)的距离的至少一个距离传感器(24)。
2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述至少一个距离传感器(24)被配置为非接触式测量传感器、尤其是激光测距仪,其中所述第二辊(18)对于所述至少一个距离传感器(24)完全遮蔽所述第一辊(14)和/或所述薄膜幅材(20)。
3.根据权利要求1或2所述的测量装置,其特征在于,所述第一辊(14)可旋转地安放在第一框架部分(12)中,其中所述第二辊(18)可旋转地安放在第二框架部分(16)中并且线性地被引导,其中所述第二框架部分(16)在闭合位置和打开位置之间可转动地与所述第一框架部分(12)耦合,其中尤其是所述第二框架部分(16)能够在闭合位置中以防运动的方式与所述第一框架部分(12)锁定。
4.根据权利要求3所述的测量装置,其特征在于,所述至少一个距离传感器(24)与所述第二框架部分(16)紧固。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的测量装置,其特征在于,设置与所述至少一个距离传感器(24)耦合的评估装置,其中所述评估装置被配置用于在所述第二辊(18)相对于所述至少一个距离传感器(24)的距离变化超过预先给定的阈值的情况下输出信号,其中所述信号能够由可连接到所述评估装置上的用于标记所述薄膜幅材(20)的被评价为有缺陷的长度区段的标记装置和/或可连接到评估装置上的用于分离所述薄膜幅材(20)的被评价为有缺陷的长度区段的切割装置进一步处理。
6.一种用于输送薄膜幅材(20)、尤其是挤出薄膜和/或共挤薄膜的输送分段,所述输送分段具有用于推进所述薄膜幅材(20)的推进装置、根据权利要求1至5中任一项所述的用于检测引导通过所述测量装置(10)的薄膜幅材(20)中的局部增厚的测量装置(10)、连接在所述测量装置(10)上游的用于分离脏物、尤其是用于通过至少一个所施加的离子云中和静电荷和/或吸走所述脏物的幅材清洁装置(28),其中尤其是所述测量装置(10)作为整体单独地被支撑和/或被安装弹簧。
7.一种用于尤其是借助于根据权利要求1至5中任一项所述的测量装置(10)检测薄膜幅材(20)、尤其是挤出薄膜和/或共挤薄膜中的局部增厚的方法,所述方法具有步骤:
在第一辊(14)和支撑在所述第一辊(14)上的第二辊(18)之间使所述薄膜幅材(20)移动穿过,其中所述第二辊(18)在可沿着移动的薄膜幅材(20)的厚度方向上、尤其是在垂直方向上柔性地被引导,
检测由局部增厚引起的所述第二辊(18)相对于所述第一辊(14)的距离变化,并且
在检测到所述第二辊(18)的超过预先给定的阈值的距离变化的情况下,输出信号,其中尤其是所述信号能够由用于标记所述薄膜幅材(20)的被评价为有缺陷的长度区段的标记装置和/或用于分离所述薄膜幅材(20)的被评价为有缺陷的长度区段的切割装置进一步处理。
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