[发明专利]光纤特性测定装置以及光纤特性测定方法

说明书

光纤特性测定装置(1～3)具备：检测使光入射到光纤(FUT)而得到的布里渊散射光(LS)的光检测部(15、15A)；根据由光检测部输出的检测信号(S1～S3)得到预先规定的基准频率(f1、f2)中的信号强度的强度取得部(16、16A)；以及根据由强度取得部取得的基准频率中的信号强度，求得作为布里渊散射光的光谱的布里渊增益光谱的峰值频率，测定光纤的特性的测定部(18、18A、18B)。

技术领域

本发明涉及光纤特性测定装置以及光纤特性测定方法。

背景技术

光纤特性测定装置为：使连续光或脉冲光入射到被测定光纤，检测被测定光纤内产生的散射光或反射光，测定被测定光纤在长度方向上的温度分布或变形(歪み)分布、被测定光纤的振动和其他的特性的装置。在该光纤特性测定装置中，由于检测到的散射光或反射光根据对被测定光纤带来影响的物理量(例如温度或变形)而变化，所以被测定光纤本身作为传感器被使用。

这样的光纤特性测定装置之一有BOCDR(Brillouin Optical CorrelationDomain Reflectometry(布里渊光相关域反射仪))方式的装置。BOCDR方式的光纤特性测定装置使作为频率调制后的连续光的泵浦光从被测定光纤的一端入射，检测使从被测定光纤的一端射出的布里渊散射光和参考光(与泵浦光同样的被频率调制后的光)干涉后的光。而后，根据得到的检测信号而得到布里渊散射光的光谱(以下称“布里渊增益光谱”)，通过求得针对布里渊散射光的入射光的频率偏移量(以下称“布里渊频移量”)来测定被测定光纤的特性。

在BOCDR方式的光纤特性测定装置中，通过使布里渊散射光和参考光干涉，选择性地提取在被测定光纤中出现“相关峰值”的特定的位置中的布里渊散射光。在此，通过扫描泵浦光和参考光的调制频率，能够使相关峰值沿着被测定光纤的长度方向移动。因此，通过一边移动相关峰值一边求得出现各相关峰值的位置中的布里渊频移量，能够测定被测定光纤的长度方向上的温度分布或变形分布。另外，关于BOCDR方式的光纤特性测定装置的详细内容希望参考例如以下的专利文献1。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特许第5105302号公报

发明内容

发明要解决的课题

然而，通过上述的BOCDR方式的光纤特性测定装置求得的布里渊频移量表示入射光的频率和布里渊增益光谱的峰值频率的差。因此，为了求得布里渊频移量，在得到布里渊增益光谱之上还有求得其峰值频率的必要。在此，由于为了得到布里渊增益光谱，有进行检测信号的频率扫描的必要，因此有着测定时间变长这一问题。

本发明鉴于上述事项而完成，目的在于提供一种能够在更短时间内测定被测定光纤的特性的光纤特性测定装置和光纤特性测定方法。

用于解决课题的手段

为了解决上述课题，本发明的一方式所涉及的光纤特性测定装置(1～3)具备：检测使光入射到光纤(FUT)得到的布里渊散射光(LS)的光检测部(15、15A)；根据由所述光检测部所输出的检测信号(S1～S3)得到预先规定的基准频率(f1、f2)中的信号强度的强度取得部(16、16A)；以及根据由所述强度取得部取得的所述基准频率中的信号强度，求得作为所述布里渊散射光的光谱的布里渊增益光谱的峰值频率，测定所述光纤的特性的测定部(18、18A、18B)。

此外，本发明的一方式所涉及的光纤特性测定装置，所述基准频率是在所述光纤被放置在预先规定的基准环境下的状态下得到的基准布里渊增益光谱的频带内的频率。

此外，本发明的一方式所涉及的光纤特性测定装置，所述基准频率是所述基准布里渊增益光谱的斜率变为最大的频率。

此外，本发明的一方式所涉及的光纤特性测定装置，所述基准频率为夹着所述基准布里渊增益光谱的峰值频率的2个频率。