[发明专利]具有减少节点效应的离子导向器在审
| 申请号: | 202080036372.3 | 申请日: | 2020-05-19 |
| 公开(公告)号: | CN113841220A | 公开(公告)日: | 2021-12-24 |
| 发明(设计)人: | H·韦尔斯;J·施韦特斯;G·荣格 | 申请(专利权)人: | 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 |
| 主分类号: | H01J49/06 | 分类号: | H01J49/06;H01J49/02;H01J49/10;H01J49/26;H01J49/42 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 周全 |
| 地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 具有 减少 节点 效应 离子 导向 | ||
1.一种用于质谱仪的离子光学布置,其包含:
-包含限定离子光轴的多极布置的电极,和
-用于向所述电极提供电压以产生电场的电压源,
其中所述离子光学布置被配置成用于产生射频电聚焦场,用于将离子聚焦在所述离子光轴上,并且
其中所述射频电聚焦场具有变化的频率,以减少通过所述离子光学布置的离子轨迹的任何质量依赖性。
2.根据权利要求1所述的离子光学布置,其中所述变化的频率为周期性变化的频率。
3.根据前述权利要求中任一项所述的离子光学布置,其中所述变化的频率变化至少10%,优选地至少20%。
4.根据前述权利要求中任一项所述的离子光学布置,其中所述电压源被配置成用于向所述多极布置供应具有变化频率的电压以产生具有变化频率的所述射频电聚焦场。
5.根据前述权利要求中任一项所述的离子光学布置,其中所述多极布置包含至少四个极,优选地至少六个极。
6.一种用于质谱仪的离子光学布置,其包含:
-包含限定离子光轴的多极布置的电极,和
-用于向所述电极提供电压以产生电场的电压源,
其中所述离子光学布置被配置成用于产生射频电聚焦场,用于将离子聚焦在所述离子光轴上,
其中所述离子光学布置还被配置成用于产生静电场,并且
其中变化的电场叠加在所述静电场上,以减少通过所述离子光学布置的离子轨迹的任何质量依赖性。
7.根据权利要求6所述的离子光学布置,其中所述静电场包含通过施加到所述多极布置的DC偏置电压产生的场,并且其中所述叠加的变化电场通过将AC电压叠加在所述DC偏置电压上产生。
8.根据权利要求7所述的离子光学布置,其中所述DC偏置电压等于零。
9.根据权利要求6至8中任一项所述的离子光学布置,其中所述静电场包含通过施加到与所述多极平行布置的辅助电极的DC辅助电压产生的轴向DC场,并且其中所述叠加的变化电场通过将AC电压叠加在所述DC辅助电压上产生。
10.根据权利要求9所述的离子光学布置,其中至少一个辅助电极包含电阻器的串联布置,用于在所述辅助电极中提供电压梯度以产生轴向场梯度。
11.一种用于质谱仪的离子光学布置,其包含:
-限定离子光轴的电极,和
-用于向所述电极提供电压以产生电场的电压源,
其中所述离子光学布置被配置成用于产生静电场,并且其中变化的电场叠加在所述静电场上以减少通过所述离子光学布置的离子轨迹的任何质量依赖性。
12.根据权利要求11所述的离子光学布置,其中所述静电场包含轴向电场,优选地具有轴向场梯度的轴向电场。
13.根据权利要求6至12中任一项所述的离子光学布置,其中所述静电场包含通过施加到离子光学透镜的DC偏置电压产生的场。
14.根据前述权利要求中任一项所述的离子光学布置,其中所述离子光学布置包含质量过滤器。
15.根据前述权利要求中任一项所述的离子光学布置,其中所述离子光学布置包含碰撞/反应池。
16.一种质谱仪,其包含根据前述权利要求中任一项所述的离子光学布置。
17.根据权利要求16所述的质谱仪,其还包含至少一个离子源,如电感耦合等离子体离子源,和至少一个检测器布置,如多接收器检测器布置,并且优选地还包括质量过滤器。
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