[发明专利]数据收集装置、信号产生位置确定系统、数据收集方法、信号产生位置确定方法以及程序在审
申请号: | 202080034490.0 | 申请日: | 2020-04-23 |
公开(公告)号: | CN114026620A | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 波多野祥二;小林胜;太田宏一 | 申请(专利权)人: | 日本富士(地探)株式会社 |
主分类号: | G08C15/00 | 分类号: | G08C15/00;G08C15/06;G08C25/00;H04L7/00 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 王丽 |
地址: | 日本国东京都千代*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数据 收集 装置 信号 产生 位置 确定 系统 方法 以及 程序 | ||
1.一种数据收集装置,其中,
所述数据收集装置具备:
基准信号接收部,其接收从外部的装置以第一时间间隔发送的基准信号,该基准信号表示由所述外部的装置计时得到的时刻即第一时刻;
时刻信号产生部,其以第二时间间隔对时刻进行计时,产生表示计时得到的时刻即第二时刻的时刻信号;
参数生成部,其基于所述基准信号接收部接收到的所述基准信号所表示的所述第一时刻、和基于在所述基准信号接收部接收到所述基准信号的时间点所述时刻信号产生部产生的时刻信号的所述第二时刻,生成参数值;
信号接收部,其接收对观测到的信号的信号波形进行表示的模拟信号;
采样部,其以所述第二时间间隔对所述信号接收部接收到的模拟信号进行采样,生成采样数据;以及
数据加工部,其根据由所述参数生成部生成的所述参数值,对由所述采样部生成的采样数据进行插值处理。
2.根据权利要求1所述的数据收集装置,其中,
所述数据加工部对所述采样数据进行线性插值处理。
3.根据权利要求1或2所述的数据收集装置,其中,
所述参数生成部生成基于所述第一时刻与所述第二时刻的偏差的所述参数值。
4.一种信号产生位置确定系统,其具有多个数据收集装置和数据分析装置,其中,
所述数据收集装置具备:
基准信号接收部,其接收从所述数据分析装置以第一时间间隔发送的基准信号,该基准信号表示由所述数据分析装置计时得到的时刻即第一时刻;
时刻信号产生部,其以第二时间间隔对时刻进行计时,产生表示计时得到的时刻即第二时刻的时刻信号;
参数生成部,其基于所述基准信号接收部接收到的所述基准信号所表示的所述第一时刻、和基于在所述基准信号接收部接收到所述基准信号的时间点所述时刻信号产生部产生的时刻信号的所述第二时刻,生成参数值;
信号接收部,其接收对观测到的信号的信号波形进行表示的模拟信号;
采样部,其以所述第二时间间隔对所述信号接收部接收到的模拟信号进行采样,生成采样数据;
数据加工部,其根据由所述参数生成部生成的所述参数值,对由所述采样部生成的采样数据进行插值处理,生成插值处理完毕数据;以及
数据发送部,其将由所述数据加工部生成的所述插值处理完毕数据向所述数据分析装置发送,
所述数据分析装置具备:
基准信号产生部,其以所述第一时间间隔产生所述基准信号;
基准信号发送部,其将所述基准信号产生部产生的所述基准信号向所述数据收集装置发送;
数据接收部,其分别接收从多个所述数据收集装置发送来的所述插值处理完毕数据;以及
数据分析部,其通过分析所述数据接收部接收到的多个所述插值处理完毕数据,来确定所述信号的产生位置。
5.根据权利要求4所述的信号产生位置确定系统,其中,
所述数据分析部构成为,
从多个所述插值处理完毕数据分别复原所述信号波形,基于复原后的信号波形的偏差来确定所述产生位置。
6.一种数据收集方法,其中,
所述数据收集方法具有:
基准信号接收步骤,在所述基准信号接收步骤中,接收从外部的装置以第一时间间隔发送的基准信号,该基准信号表示由所述外部的装置计时得到的时刻即第一时刻;
时刻信号产生步骤,在所述时刻信号产生步骤中,以第二时间间隔对时刻进行计时,产生表示计时得到的时刻即第二时刻的时刻信号;
参数生成步骤,在所述参数生成步骤中,基于通过所述基准信号接收步骤接收到的所述基准信号所表示的所述第一时刻、和基于在通过所述基准信号接收步骤接收到所述基准信号的时间点通过所述时刻信号产生步骤产生的时刻信号的所述第二时刻,生成参数值;
信号接收步骤,在所述信号接收步骤中,接收对观测到的信号的信号波形进行表示的模拟信号;
采样步骤,在所述采样步骤中,以所述第二时间间隔对通过所述信号接收步骤接收到的模拟信号进行采样,生成采样数据;以及
数据加工步骤,根据通过所述参数生成步骤生成的所述参数值,对通过所述采样步骤生成的采样数据进行插值处理。
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