[发明专利]检测装置以及检测装置的制造方法在审

专利信息
申请号: 202080033086.1 申请日: 2020-03-31
公开(公告)号: CN113767414A 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 富冈安;松永和己;日向野敏行;西山和广 申请(专利权)人: 株式会社日本显示器
主分类号: G06T1/00 分类号: G06T1/00;A61B5/1172
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 闫剑平
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 装置 以及 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种检测装置,其特征在于,具备:

接受光的多个受光元件;以及

一方的表面与所述受光元件相对设置的导光部,

所述导光部包括从所述导光部的所述一方的表面设置到另一方的表面为止的多个导光路径、以及所述光的吸收率比所述导光路径高的吸光部,

在从所述受光元件与所述导光部重叠的方向观察的情况下,相对于一个所述受光元件重叠有多个所述导光路径。

2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,

所述导光路径由光的透射率比所述吸光部高的固体状的构件构成。

3.根据权利要求1或者2所述的检测装置,其特征在于,

与一个所述受光元件重叠的多个所述导光路径的长径比彼此不同,所述长径比为从所述一方的表面到所述另一方的表面为止的长度相对于直径的比率。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的检测装置,其特征在于,

所述导光路径随着趋向所述另一方的表面侧,其直径变小。

5.根据权利要求1~4中任一项所述的检测装置,其特征在于,

所述导光部还包括所述光的折射率比所述导光路径低的低折射率部。

6.根据权利要求5所述的检测装置,其特征在于,

所述低折射率部包围各个所述导光路径的周围,所述吸光部包围各个所述低折射率部的周围。

7.根据权利要求5所述的检测装置,其特征在于,

所述低折射率部包围各个所述导光路径的周围,所述吸光部设于所述低折射率部的所述另一方的表面一侧。

8.根据权利要求1~7中任一项所述的检测装置,其特征在于,

所述吸光部具备吸收可见光但透射红外光的第1吸光部、以及吸收可见光和红外光的第2吸光部。

9.根据权利要求1~8中任一项所述的检测装置,其特征在于,

所述导光部由有机材料构成。

10.一种检测装置的制造方法,其为权利要求9所述的检测装置的制造方法,其特征在于,包括:

在基板上涂敷第1有机材料的第1涂敷步骤;

导光路径形成步骤,对涂敷在基板上的所述第1有机材料的形成所述导光路径的区域照射光,使照射了光的区域中的所述第1有机材料固化,将固化的所述第1有机材料设为所述导光路径;

除去步骤,从所述基板上除去未固化的所述第1有机材料;

第2涂敷步骤,对所述基板上的没有形成所述导光路径的区域涂敷第2有机材料;以及

吸光部形成步骤,对所述基板上的第2有机材料照射光以及/或者热量使所述第2有机材料固化,形成所述吸光部。

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