[发明专利]包括用于减少CCD测量之间串扰的器件和方法的测定装置、方法和试剂在审
| 申请号: | 202080031975.4 | 申请日: | 2020-04-22 |
| 公开(公告)号: | CN113874713A | 公开(公告)日: | 2021-12-31 |
| 发明(设计)人: | G·I·克里沃伊;C·泽默曼;J·万德萨尔;S·库瓦斯;A·雷姆库赫勒;L·塔巴基恩;J·威尔洛吉比;M·库查尔;C·M·克林顿 | 申请(专利权)人: | 中尺度技术有限责任公司 |
| 主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N21/63;G01N21/66;H01L27/148;H01L27/00;G01N21/00;G01N35/00 |
| 代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 周衡威 |
| 地址: | 美国马*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 包括 用于 减少 ccd 测量 之间 器件 方法 测定 装置 试剂 | ||
1.一种系统,其被配置为在分析物之间减少串扰的情况下测量测定板中的多个分析物,所述系统包括:
CCD相机,其包含CCD、模拟前端电路和模数电路,所述CCD相机被配置为测量多个分析物并耦合到聚焦系统和板托架系统,该板托架系统被配置为定位所述测定板以促进多个分析物的测量,
其中所述模拟前端电路被配置为接收来自CCD的串行寄存器的读出信号并将所述读出信号传送至所述模数电路以产生多个图像数据点,所述模拟前端电路包括配置有时间常数的参考水平钳位电路,该时间常数被选择以完全重置连续图像数据点读取之间的参考水平,从而减少所述多个分析物中的第一个的第一次测量和所述多个分析物的第二个的第二次测量之间的串扰。
2.根据权利要求1所述的系统,其中所述多个分析物中的第一个和所述多个分析物中的第二个包含在所述测定板的单个孔中。
3.根据权利要求1所述的系统,其中所述多个分析物中的第一个和所述多个分析物中的第二个包含在所述测定板的不同孔中。
4.根据权利要求1所述的系统,其中在连续图像数据点读取之间完全重置参考水平使得所述参考水平的幅度在连续图像数据点读取之间返回到预定值。
5.根据权利要求1所述的系统,其中在连续图像数据点读取之间完全重置参考水平减少了第一图像数据点值对在第一图像数据点值之后连续获得的第二图像数据点值的影响。
6.根据权利要求1所述的系统,其中所述时间常数是所述参考水平钳位电路的衰减时间常数。
7.根据权利要求1所述的系统,其中所述多个图像数据点中的每一个代表所述CCD的像素。
8.根据权利要求1所述的系统,其中所述多个图像数据点中的每一个代表所述CCD的多个合并读出像素。
9.根据权利要求1所述的系统,其中所述多个分析物在空间上彼此分离。
10.一种减少由CCD相机执行的测定板中多个分析物的测量之间的串扰的方法,所述方法包括:
用所述CCD相机测量所述多个分析物,所述CCD相机包括CCD、模拟前端电路和模数电路,并且耦合到聚焦系统和板托架系统,该板托架系统被配置为定位所述测定板以促进多个分析物的测量;
通过所述模拟前端电路接收来自CCD的串行寄存器的读出信号,其中接收所述读出信号包括:
将所述读出信号从所述串行寄存器传送到所述模数电路以产生第一图像数据点,通过具有时间常数的参考水平钳位电路完全重置所述模拟前端电路的参考水平,
将所述读出信号从所述串行寄存器传送到所述模数电路以产生第二图像数据点,
其中选择所述时间常数以减少所述多个分析物的第一个的第一次测量和所述多个分析物的第二个的第二次测量之间的串扰。
11.根据权利要求10所述的方法,其中所述多个分析物中的第一个和所述多个分析物中的第二个包含在所述测定板的单个孔中。
12.根据权利要求10所述的方法,其中所述多个分析物中的第一个和所述多个分析物中的第二个包含在所述测定板的不同孔中。
13.根据权利要求10所述的方法,其中在连续图像数据点读取之间重置所述模拟前端电路的参考水平包括在连续图像数据点读取之间返回所述参考水平的幅度以返回到预定值。
14.根据权利要求10所述的方法,其中在连续图像数据点读取之间重置参考水平减少了第一图像数据点值对在第一图像数据点值之后连续获得的第二图像数据点值的影响。
15.根据权利要求10所述的方法,其中所述时间常数是所述参考水平钳位电路的衰减时间常数。
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