[发明专利]微型LED装置和阵列的修复技术

说明书

公开了用于修复发射显示系统的结构和方法。提供了根据所述结构和方法的各种修复技术实施例以克服和减轻缺陷像素，并提高所述发射显示系统的成品率和降低其成本。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2019年4月9日提交的第62/831,403号美国临时专利申请和2019年4月9日提交的第62/831,564号美国临时专利申请的优先权和权益，其各自通过引用整体并入本文。

技术领域

本公开总体上涉及微型LED显示器，并且更具体，提供用于微型LED显示器的修复技术。此外，本公开还涉及光电固态阵列装置，并且更具体地涉及改善固态阵列装置的光输出分布的方法和结构。

发明内容

测试和修复包括转移到系统基板上的微型装置的微型LED显示器对提高成品率至关重要。虽然使用备用微型装置可以提高成品率，但同时也会增加成本。下文描述的实施例旨在实现简单和/或实际的修复过程，以提高成品率并降低成本。

根据一个实施例，可以提供系统基板上的显示系统。显示系统可以包含像素阵列，其中每个像素包括以矩阵排列的一组子像素；该组子像素包含至少一个缺陷子像素；以及缺陷映射块，其用于将数据从至少一个缺陷子像素映射到至少一个周围的备用子像素。

根据另一实施例，一种修复包含多个像素的像素电路的方法可以包含：为每个像素提供一组多于两个子像素和一个备用子像素；在该组子像素中检测出至少一个缺陷子像素；以及用颜色转换或滤色器转换备用子像素以产生与缺陷子像素相同的颜色。

在另一实施例中，可以提供一种修复像素电路的方法。该方法可以包含：提供包含具有高波长发射的多于一个主子像素的像素；将颜色转换材料应用于主子像素中的至少一个以将高波长发射转换为不同于高波长发射的发射波长；识别主子像素中的缺陷子像素；以及通过使用颜色转换材料将备用子像素映射到与缺陷主子像素相同的原色。

根据又一实施例，可以提供一种修复像素电路的方法。该方法可以包含：提供包含具有组合波长发射的多于一个主子像素的像素；将滤色材料应用于主子像素中的至少一个以将组合波长发射转换为不同的发射波长；识别主子像素中的缺陷子像素；以及使用滤色材料将备用子像素映射到与缺陷子像素相同的原色。

根据一些实施例，可以提供一种修复像素电路的方法。该方法可以包含：提供包含至少一个高波长主子像素的像素；提供至少一个具有相同波长的备用子像素；识别主子像素和备用子像素中的缺陷子像素；以及将颜色转换层映射到没有缺陷的子像素，使得对于每个预期的主子像素至少有一个子像素。

根据另一实施例，可以提供一种修复像素电路的方法。该方法可以包含：提供包含至少一个组合颜色子像素的像素；提供至少一个具有相同组合颜色的备用子像素；识别主像素和备用子像素中的缺陷子像素；以及将滤色层映射到没有缺陷的子像素，使得对于每个预期的主子像素至少有一个子像素。

根据又一实施例，一种在显示系统中用备用子像素替换缺陷子像素的方法可以包含：向显示器中的子像素的位置提供周期性空间变化；计算备用子像素与缺陷子像素之间的最大距离和最小距离；提取子像素的坐标变化；以及基于计算出的变化用备用子像素更换缺陷微型装置。

根据又一实施例，一种校正光电装置阵列的空间非均匀性的方法，其中基于所述阵列中的空间非均匀性阻断由光电装置产生或吸收的一部分信号。

本发明还涉及改善固态阵列装置的光输出发布的方法和结构。

根据一个实施例，可以提供一种制造像素化结构的方法。该方法可以包含：提供包含多个像素化微型装置的供体基板；将一组选择性的像素化微型装置从供体基板接合到系统基板；以及在将供体基板与系统基板分离之后，对像素化微型装置的底部导电层进行图案化。

根据一个实施例，可以提供具有多个微型装置的供体基板，其中接合填料和填充层填充微型装置之间的空间。