[发明专利]雷达装置以及雷达装置用托架在审
| 申请号: | 202080026869.7 | 申请日: | 2020-04-08 |
| 公开(公告)号: | CN113661610A | 公开(公告)日: | 2021-11-16 |
| 发明(设计)人: | 樱井一正;境俊哉 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
| 主分类号: | H01Q15/18 | 分类号: | H01Q15/18;H01Q19/17;G01S7/03;G01S13/931 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王秀辉 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 雷达 装置 以及 托架 | ||
本发明涉及雷达装置以及雷达装置用托架。是通过辐射电波来探测存在于规定的探测范围内的物体的雷达装置(1、101),具备天线部(2)和电波反射部(4、400)。天线部构成为辐射电波。电波反射部配置于天线部的周围的区域且探测范围外的区域,并具有相对于雷达装置的设置面(44)的高度逐渐变化的反射面。
相关申请的交叉引用
本国际申请主张基于2019年4月8日向日本专利厅申请的日本专利申请第2019-73423号的优先权,并在本国际申请中通过参照引用日本专利申请第2019-73423号的全部内容。
技术领域
本公开涉及雷达装置以及用于该雷达装置的雷达装置用托架。
背景技术
已知有以车辆的自动驾驶、碰撞防止等为目的而使用的毫米波雷达。毫米波雷达是用于照射电波,检测照射的电波被物体反射的反射波,来探测规定的探测区域内的物体的存在、到该物体的距离的雷达。在这种毫米波雷达中,存在偏离所希望的照射范围或是绕到非期望区域的电波亦即无用波。这样的无用波会带来物体的探测误差。
在专利文献1中公开了减少方位探测误差的技术。所谓方位探测误差是关于以雷达装置为基准的物体的方位的误差。在专利文献1中公开了通过在雷达装置的壳体设置由吸收电磁波的材料形成的吸收要素而抑制无用波等的多重反射来减少误差的技术。
专利文献1:日本特开2014-547812号公报
然而,发明者的详细研究的结果是在专利文献1所记载的技术中发现了由于需要与雷达装置分开设置吸收要素所以制造成本上升这个课题。
发明内容
在本公开的一方式中,优选提供能够减少雷达的方位探测误差以及降低制造成本的新构造的雷达装置。
本公开的一方式是通过辐射电波来探测存在于规定的探测范围内的物体的雷达装置,具备天线部和电波反射部。天线部辐射电波。电波反射部配置于天线部的周围的区域且探测范围外的区域,并具有相对于雷达装置的设置面的高度逐渐变化的反射面。
根据这样的结构,在设置于雷达周边的电波反射部中,利用相对于设置面的高度逐渐变化的反射面使无用波反射,从而使来自反射面的各反射波的相位分散,减少反射的无用波对雷达辐射波的干扰引起的相位的紊乱。因此,能够减少雷达的方位探测误差。另外,能够减少雷达的物体检测误差而不必设置电波的吸收要素等,在也可以不设置电波的吸收要素等这个点上,能够减少制造成本。
本公开的一方式是用于将雷达装置安装于车辆的托架,具备电波反射部。电波反射部在安装状态下配置于辐射电波的天线部的周围的区域且探测范围外的区域,并具有相对于雷达装置的设置面的高度逐渐变化的反射面。
根据这样的结构,能够通过托架单体起到与上述的效果相同的效果。
附图说明
图1的A是表示第一实施方式中的雷达装置的示意图。图1的B是图1的A的IB-IB线处的示意性的剖视图。图1的C是图1的A的IC-IC线处的示意性的剖视图。
图2的A是表示第一实施方式的变形例1中的雷达装置的示意图。图2的B是图2的A的IIB-IIB线处的示意性的剖视图。图2的C是图2的A的IIC-IIC线处的示意性的剖视图。
图3的A是表示第一实施方式的变形例2中的雷达装置的示意图。图3的B是图3的A的IIIB-IIIB线处的示意性的剖视图。图3的C是图3的A的IIIC-IIIC线处的示意性的剖视图。
图4的A是表示第一实施方式的变形例3中的雷达装置的示意图。图4的B是图4的A的IVB-IVB线处的示意性的剖视图。图4的C是图4的A的IVC-IVC线处的示意性的剖视图。
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