[发明专利]下层膜形成用材料、抗蚀剂下层膜及层叠体在审

专利信息
申请号: 202080012316.6 申请日: 2020-01-22
公开(公告)号: CN113365820A 公开(公告)日: 2021-09-07
发明(设计)人: 井上浩二;川岛启介;藤井谦一;小田隆志 申请(专利权)人: 三井化学株式会社
主分类号: B32B27/06 分类号: B32B27/06;C08G61/06;G03F7/11;G03F7/26;H01L21/027;B32B7/027;B32B3/30
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 陈彦;郭玫
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 下层 形成 用材 抗蚀剂 层叠
【权利要求书】:

1.一种下层膜形成用材料,其为在多层抗蚀剂工艺中使用的下层膜形成用材料,该下层膜形成用材料的固体成分满足以下(i)~(iii),

(i)由以下数学式(1)定义的元素构成比率Re为1.5~2.8,

(ii)玻璃化转变温度为30~250℃,

(iii)包含具有下述通式(A)所示的结构单元的树脂以及具有下述通式(B)所示的结构单元的树脂,

数学式(1)中,

NH为下层膜形成用材料的固体成分中的氢原子的数目,

NC为下层膜形成用材料的固体成分中的碳原子的数目,

NO为下层膜形成用材料的固体成分中的氧原子的数目,

通式(A)中,

Ar1表示至少被羟基和/或缩水甘油基氧基取代的2价的芳香族基团,

Ra表示选自氢原子、碳原子数1~10的烷基、碳原子数6~10的芳基、碳原子数7~10的芳烷基、碳原子数2~10的烷氧基烷基、碳原子数7~10的芳氧基烷基中的任一取代基,

通式(B)中,

Rc各自独立地表示氢原子、碳原子数1~10的烷基、碳原子数6~10的芳基、碳原子数7~10的芳烷基、碳原子数2~10的烷氧基烷基、碳原子数7~10的芳氧基烷基,

Ar11表示2价的芳香族基团,所述2价的芳香族基团可以取代也可以未取代,

Ar12表示以下通式(B1)~(B3)所示结构的任一者,

通式(B1)~(B3)中,

Rd在存在多个的情况下,各自独立地表示选自碳原子数1~10的烷基、碳原子数6~20的芳基、碳原子数1~10的烷氧基、碳原子数6~20的芳氧基、碳原子数2~10的烷氧基烷基、碳原子数7~20的芳氧基烷基、碳原子数2~20的烷氧基羰基、碳原子数3~10的二烷基氨基羰基、碳原子数7~20的芳氧基羰基、碳原子数8~20的烷基芳基氨基羰基、碳原子数3~20的烷氧基羰基烷基、碳原子数8~20的烷氧基羰基芳基、碳原子数8~20的芳氧基羰基烷基、碳原子数3~20的烷氧基烷基氧基羰基和碳原子数4~20的烷氧基羰基烷基氧基羰基中的任一者,

r1为1以上(6-q1)以下,

q1为0以上5以下,

r2为1以上(4-q2)以下,

q2为0以上3以下,

r3为0以上4以下,r4为0以上4以下,其中r3+r4为1以上,

q3为0以上4以下,q4为0以上4以下,其中q3+q4为7以下,

X表示单键或碳原子数1~3的亚烷基。

2.根据权利要求1所述的下层膜形成用材料,

该下层膜形成用材料的固体成分的由以下数学式(2)定义的元素构成比率Re’为1.5~2.8,

数学式(2)中,

NH为下层膜形成用材料的固体成分中的氢原子的数目,

NC为下层膜形成用材料的固体成分中的碳原子的数目,

NO为下层膜形成用材料的固体成分中的氧原子的数目,

NN为下层膜形成用材料的固体成分中的氮原子的数目。

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