[发明专利]下层膜形成用材料、抗蚀剂下层膜及层叠体在审
| 申请号: | 202080012316.6 | 申请日: | 2020-01-22 |
| 公开(公告)号: | CN113365820A | 公开(公告)日: | 2021-09-07 |
| 发明(设计)人: | 井上浩二;川岛启介;藤井谦一;小田隆志 | 申请(专利权)人: | 三井化学株式会社 |
| 主分类号: | B32B27/06 | 分类号: | B32B27/06;C08G61/06;G03F7/11;G03F7/26;H01L21/027;B32B7/027;B32B3/30 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 陈彦;郭玫 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 下层 形成 用材 抗蚀剂 层叠 | ||
1.一种下层膜形成用材料,其为在多层抗蚀剂工艺中使用的下层膜形成用材料,该下层膜形成用材料的固体成分满足以下(i)~(iii),
(i)由以下数学式(1)定义的元素构成比率Re为1.5~2.8,
(ii)玻璃化转变温度为30~250℃,
(iii)包含具有下述通式(A)所示的结构单元的树脂以及具有下述通式(B)所示的结构单元的树脂,
数学式(1)中,
NH为下层膜形成用材料的固体成分中的氢原子的数目,
NC为下层膜形成用材料的固体成分中的碳原子的数目,
NO为下层膜形成用材料的固体成分中的氧原子的数目,
通式(A)中,
Ar1表示至少被羟基和/或缩水甘油基氧基取代的2价的芳香族基团,
Ra表示选自氢原子、碳原子数1~10的烷基、碳原子数6~10的芳基、碳原子数7~10的芳烷基、碳原子数2~10的烷氧基烷基、碳原子数7~10的芳氧基烷基中的任一取代基,
通式(B)中,
Rc各自独立地表示氢原子、碳原子数1~10的烷基、碳原子数6~10的芳基、碳原子数7~10的芳烷基、碳原子数2~10的烷氧基烷基、碳原子数7~10的芳氧基烷基,
Ar11表示2价的芳香族基团,所述2价的芳香族基团可以取代也可以未取代,
Ar12表示以下通式(B1)~(B3)所示结构的任一者,
通式(B1)~(B3)中,
Rd在存在多个的情况下,各自独立地表示选自碳原子数1~10的烷基、碳原子数6~20的芳基、碳原子数1~10的烷氧基、碳原子数6~20的芳氧基、碳原子数2~10的烷氧基烷基、碳原子数7~20的芳氧基烷基、碳原子数2~20的烷氧基羰基、碳原子数3~10的二烷基氨基羰基、碳原子数7~20的芳氧基羰基、碳原子数8~20的烷基芳基氨基羰基、碳原子数3~20的烷氧基羰基烷基、碳原子数8~20的烷氧基羰基芳基、碳原子数8~20的芳氧基羰基烷基、碳原子数3~20的烷氧基烷基氧基羰基和碳原子数4~20的烷氧基羰基烷基氧基羰基中的任一者,
r1为1以上(6-q1)以下,
q1为0以上5以下,
r2为1以上(4-q2)以下,
q2为0以上3以下,
r3为0以上4以下,r4为0以上4以下,其中r3+r4为1以上,
q3为0以上4以下,q4为0以上4以下,其中q3+q4为7以下,
X表示单键或碳原子数1~3的亚烷基。
2.根据权利要求1所述的下层膜形成用材料,
该下层膜形成用材料的固体成分的由以下数学式(2)定义的元素构成比率Re’为1.5~2.8,
数学式(2)中,
NH为下层膜形成用材料的固体成分中的氢原子的数目,
NC为下层膜形成用材料的固体成分中的碳原子的数目,
NO为下层膜形成用材料的固体成分中的氧原子的数目,
NN为下层膜形成用材料的固体成分中的氮原子的数目。
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