[发明专利]测量距离的装置

权利要求书

1.一种测量距离的装置，包括：

可移动的搭载平台；

X轴向测距设备，可伸缩地收容在所述搭载平台内；所述X轴向测距设备包括定位件；当所述定位件伸出所述搭载平台以固定在参考位置处时，所述搭载平台远离所述参考位置沿X轴向移动到待测位置；当所述X轴向测距设备处于非使用状态时，所述X轴向测距设备收纳并固定在所述可移动的搭载平台上；

Z轴向测距设备，通过转盘垂直设置在所述搭载平台的顶部，用以将所述Z轴向测距设备相对所述搭载平台的顶面进行水平旋转；以及

Y轴向测距设备，沿垂直方向可滑动地设置在所述Z轴向测距设备上；所述Y轴向测距设备具有接触端；当所述搭载平台移动到所述待测位置时，调节所述Y轴向测距设备上的所述接触端，使得所述接触端与所述待测位置接触，以确定所述待测位置相对于所述参考位置分别在X轴向、Y轴向和Z轴向的距离；

其中，所述X轴向测距设备还包括可伸缩的X轴向测量仪，所述X轴向测量仪具有出口端，所述定位件设置在所述出口端处，使得当所述搭载平台远离所述参考位置进行移动时，所述X轴向测量仪沿所述X轴向被拉伸，以测量所述待测位置相对于所述参考位置在所述X轴向上的距离。

2.根据权利要求1所述的测量距离的装置，其中，所述Z轴向测距设备包括沿所述Z轴向设置的Z轴向测量仪，用以测量所述待测位置相对于所述参考位置在所述Z轴向上的距离。

3.根据权利要求1所述的测量距离的装置，其中，所述Y轴向测距设备包括沿所述Y轴向设置的Y轴向测量仪，所述接触端用作所述Y轴向测量仪的自由端，用以测量所述待测位置相对于所述参考位置在所述Y轴向上的距离。

4.根据权利要求3所述的测量距离的装置，其中，所述Y轴向测距设备还包括滑动件，沿垂直方向可滑动地设置在所述Z轴向测距设备上；所述Y轴向测量仪沿所述Y轴向可移动地设置在所述滑动件上。

5.根据权利要求4所述的测量距离的装置，其中，所述Z轴向测距设备包括立柱，所述立柱具有沿所述Z轴向的收纳槽，用以收纳所述Y轴向测量仪，所述收纳槽的长度大于或等于所述Y轴向测量仪的长度。

6.根据权利要求1所述的测量距离的装置，其中，所述定位件包括配置块，用以将所述定位件固定在所述参考位置处。

7.根据权利要求1所述的测量距离的装置，其中，所述定位件通过粘接固定在所述参考位置处。

8.根据权利要求1所述的测量距离的装置，其中，所述X轴向测量仪包括X轴向刻度尺和用以容纳所述X轴向刻度尺的轻质外壳，所述X轴向刻度尺的量程大于或等于6000mm。

9.根据权利要求2所述的测量距离的装置，其中，所述Z轴向测量仪包括Z轴向刻度尺和用以容纳所述Z轴向刻度尺的轻质外壳，所述Z轴向刻度尺的量程大于或等于18000mm。

10.根据权利要求3所述的测量距离的装置，其中，所述Y轴向测量仪包括Y轴向刻度尺和用以容纳所述Y轴向刻度尺的轻质外壳，所述Y轴向刻度尺的量程大于或等于12000mm。

11.根据权利要求1所述的测量距离的装置，其中，所述搭载平台上包括沿所述X轴向设置的X轴向激光测距设备，用以测量所述待测位置相对于所述参考位置在所述X轴向上的距离。

12.根据权利要求11所述的测量距离的装置，其中，所述Z轴向测距设备包括沿所述Z轴向可滑动的Z轴向激光测距设备，用以测量所述待测位置相对于所述参考位置在所述Z轴向上的距离。

13.根据权利要求12所述的测量距离的装置，其中，所述Z轴向激光测距设备包括沿所述Y轴向设置的Y轴向激光测距设备，用以测量所述待测位置相对于所述参考位置在所述Y轴向上的距离。

14.根据权利要求1所述的测量距离的装置，其中，所述可移动的搭载平台的底部设置滚轮或者履带。