[实用新型]一种颗粒物粒径谱仪比对校准系统

权利要求书

1.一种颗粒物粒径谱仪比对校准系统，其特征在于，包括空压机(1)、沉降室(6)、上位机(10)、至少一个颗粒物粒径谱仪标准机(8)和至少一个颗粒物粒径谱仪被标机(9)，所述空压机(1)通过沉降气管路(2)和注射气管路(3)与所述沉降室(6)连接，所述注射气管路(3)设有标尘瓶(4)，所述标尘瓶(4)通过电磁阀(5)与所述沉降室(6)连接，所述注射气管路(3)通过电磁阀(5)与所述沉降室(6)连接，所述沉降室(6)设有若干个出气口(7)，所述沉降室(6)通过所述若干个出气口(7)分别与所述至少一个颗粒物粒径谱仪标准机(8)和所述至少一个颗粒物粒径谱仪被标机(9)连接，所述上位机(10)分别与所述电磁阀(5)、所述至少一个颗粒物粒径谱仪标准机(8)和所述至少一个颗粒物粒径谱仪被标机(9)连接。

2.根据权利要求1所述的颗粒物粒径谱仪比对校准系统，其特征在于，所述注射气管路(3)为所述沉降气管路(2)上设置的一条支路，所述电磁阀(5)位于所述注射气管路(3)上。

3.根据权利要求1或2所述的颗粒物粒径谱仪比对校准系统，其特征在于，所述空压机设有除湿模块。

4.根据权利要求3所述的颗粒物粒径谱仪比对校准系统，其特征在于，所述空压机的压力最少为2Bar。

5.根据权利要求1所述的颗粒物粒径谱仪比对校准系统，其特征在于，所述沉降气管路(2)的流量为9.5～11L。

6.根据权利要求5所述的颗粒物粒径谱仪比对校准系统，其特征在于，所述沉降气管路(2)的流量为10L。