[实用新型]基于同颗芯片的ADC测试电路有效
| 申请号： | 202023305325.0 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN214097709U | 公开（公告）日： | 2021-08-31 |
| 发明（设计）人： | 李宁;徐建华 | 申请（专利权）人： | 宜宾芯汇信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人： | 陈忠辉 |
| 地址： | 644000 四川省宜*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 芯片 adc 测试 电路 | ||
【权利要求书】：
1.基于同颗芯片的ADC测试电路，其特征在于：基于芯片内ADC模块、DAC模块及模块间的逻辑操控回路相接构成，其中逻辑操控回路为包含电阻R1~电阻Rn的串联电路，其中n的取值对应大于ADC模块的通道数量，所述DAC模块的两条通道接入逻辑操控回路，任意两相邻电阻间的节点分路接入ADC模块的全部通道引脚。
2.根据权利要求1所述基于同颗芯片的ADC测试电路，其特征在于：所述DAC模块根据ADC模块采样频率周期性切换对应逻辑操控回路的电压输入。
3.根据权利要求1所述基于同颗芯片的ADC测试电路，其特征在于：所述ADC模块模块的对应引脚分路并联于VREF+、VREF-、VDDA、VSSA。
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