[实用新型]一种发光器件的测试盒

说明书

本实用新型公开一种发光器件的测试盒，用于测试底发射型发光器件，其包括测试盒主体以及与所述测试盒主体上下两端分别转动连接的测试盒上盖和测试盒底盖；所述测试盒底盖用于放置待测的底发射型发光器件，所述测试盒主体上设置有第一凹槽，所述第一凹槽内设置有用于对所述底发射行发光器件发出的光进行汇聚的凸透镜；所述测试盒上盖上设置有第二凹槽，所述第二凹槽内设置有光电二极管。本实用新型通过所述凸透镜对底发射型发光器件发出的光进行汇聚然后再到达到所述光电二极管上，这样就增大了光电二极管对底发射型发光器件发出的光的收集，从而获得准确的底发射型发光器件的性能测试数据。

技术领域

本实用新型涉及发光器件的性能测试技术领域，尤其涉及一种发光器件的测试盒。

背景技术

近年来，量子点发光二极管(QLED)和有机发光二极管(OLED)因具有高亮度、低功耗、广色域、易加工等诸多优点而在照明和显示领域获得了广泛的关注与研究。相对比有机发光二极管(OLED)，在同等画质下，QLED的节能性有望达到OLED的两倍，发光率将提升30％至40％。同时，QLED具有启亮电压低、光致发光光谱半高宽窄、发光波长与颜色可通过量子点颗粒尺寸进行调节和低成本溶液法制备等优点，在固态照明和显示领域有巨大的应用潜力。通常发光材料及器件的性能可以从发光性能和电学性能两个方面来评价。发光性能主要包括发射光谱、发光亮度、发光效率、发光色度和寿命；而电学性能则包括电流与电压的关系等，这些都是衡量材料和器件性能的主要参数。

通过LabView控制海洋光学公司的QE PRO光纤光谱仪和Keithly 2400以及硅光二极管，可以搭建一套发光器件的效率测试系统。QE PRO光纤光谱仪直接读出的光谱数据横坐标分别为波长λ(单位为nm)和与光谱能量成正比的CCD计数S(λ)(单位为Count)，其中每次读取的λ都是固定值。用标准光源校准光谱仪，得到校正系数Cp(λ)，QE PRO光纤光谱仪在暗态下的CCD计数为D(λ)；光谱仪积分时间为T(单位为S)，QE PRO光纤光谱仪读取的光谱间隔为δλ(单位为nm)；波长λ处的光子能量为Eλ；Keithly2400直接测得器件电流Io；硅光二极管直接测得光电流Is然后可以通过乘以转换因子将其转换为实际亮度。光电二极管是一种典型的光电效应探测器，具有量子噪声低、响应快、使用方便等优点，广泛应用于多种光电器件，光电二极管的基本特性包括灵敏度、光谱响应度、响应时间、噪声等。光谱响应度又称光谱响应率，电流光谱响应度定义为在波长为λ的单位入射辐射功率P(λ)的照射下，光电二极管输出的信号电流Is。器件发射的光子数与硅光二极管收到的光子数的比例直接影响到了器件光电性能参数。底发射型发光器件的发光是一个朗伯体，而现有的硅光二极管探测器是一个平面，这就导致了硅光二极管无法完全收集底发射型发光器件发出的光强。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种发光器件的测试盒，旨在解决现有技术无法完全收集底发射型发光器件发出的光子数，导致发光器件的性能测试不准确的问题。

本实用新型的技术方案如下：

一种发光器件的测试盒，用于测试底发射型发光器件，其中，包括测试盒主体以及与所述测试盒主体上下两端分别转动连接的测试盒上盖和测试盒底盖；所述测试盒底盖用于放置待测的发光器件，所述测试盒主体上设置有第一凹槽，所述第一凹槽内设置有用于对所述发光器件发出的光进行汇聚的凸透镜；所述测试盒上盖上设置有第二凹槽，所述第二凹槽内设置有光电二极管。

所述发光器件的测试盒，其中，所述凸透镜为双凸透镜。

所述发光器件的测试盒，其中，所述凸透镜为平凸透镜，所述平凸透镜的凸面面向所述光电二极管。

所述发光器件的测试盒，其中，所述第一凹槽的四个侧面均设置有全反镜。

所述发光器件的测试盒，其中，所述凸透镜设置在所述发光器件上方的0.8-1.5cm位置处。