[实用新型]一种高稳定性粒度分析仪有效

专利信息
申请号: 202023264505.9 申请日: 2020-12-29
公开(公告)号: CN213749501U 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 张丹 申请(专利权)人: 武汉诺伦电气有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G01N1/38
代理公司: 武汉明正专利代理事务所(普通合伙) 42241 代理人: 江沣
地址: 430000 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 稳定性 粒度 分析
【权利要求书】:

1.一种高稳定性粒度分析仪,包括基座(1)、工作架(2)、支架(3)、支持架(4)和承托板(5),其特征在于:所述基座(1)上端上端设置有工作架(2),所述基座(1)一侧上端设置有支架(3),所述支架(3)下端设置有支持架(4),所述支持架(4)设置在工作架(2)内部。

2.根据权利要求1所述的一种高稳定性粒度分析仪,其特征在于,所述承托板(5)内部开设有安装槽(12),所述安装槽(12)开设在承托板(5)内部中间位置,所述安装槽(12)内部下端设置有转动轴承(11),所述转动轴承(11)放置安装槽(12)内部下端,所述转动轴承(11)内部设置有放料斗(9),所诉放料斗(9)设置在转动轴承(11)内部,所述放料斗(9)外部设置有固定圈(10),所述固定圈(10)套接在放料斗(9)外部。

3.根据权利要求1所述的一种高稳定性粒度分析仪,其特征在于,所述基座(1)下端周侧均设置有垫脚(6),所述垫脚(6)均焊接在基座(1)下端周侧,所述垫脚(6)下端均设置有防滑垫(7),所述防滑垫(7)固定安装在垫脚(6)下端,所述承托板(5)安装在基座(1)内部开设的方槽内部。

4.根据权利要求1所述的一种高稳定性粒度分析仪,其特征在于,所述工作架(2)设置在基座(1)一侧,所述工作架(2)上端设置有支架(3),所述支架(3)固定连接在工作架(2)一侧,所述工作架(2)内部开设有滑槽(18),所述滑槽(18)内部设置有支持架(4),所述支持架(4)滑动连接在滑槽(18)内部。

5.根据权利要求1所述的一种高稳定性粒度分析仪,其特征在于,所述支持架(4)设置在工作架(2)一侧开设的滑槽(18)内部,所述支持架(4)下端设置有垫脚(6),所述垫脚(6)上端设置在连接板(17),所述连接板(17)固定安装在伸缩杆(16)上端,所述连接板(17)上端设置有支持架(4),所述连接板(17)固定连接在支持架(4)下端。

6.根据权利要求1所述的一种高稳定性粒度分析仪,其特征在于,所述支架(3)设置在工作架(2)上端一侧,所述支架(3)一侧开设有放置孔(8),所述放置孔(8)内部设置有镜筒(19),所述镜筒(19)固定安装在放置孔(8)内部,所述镜筒(19)内部上下两端均设置有高倍目镜(20),所述高倍目镜(20)均安装在镜筒(19)内部。

7.根据权利要求1所述的一种高稳定性粒度分析仪,其特征在于,所述支持架(4)一侧下端设置有安装板(15),所述安装板(15)一侧设置有扩束光镜(13),所述扩束光镜(13)固定连接在安装板(15)一侧,所述扩束光镜(13)下端设置有傅立叶变换透镜(14),所述傅立叶变换透镜(14)安装在扩束光镜(13)下端。

8.根据权利要求3所述的一种高稳定性粒度分析仪,其特征在于,所述垫脚(6)下端下端均设置有防滑垫(7),所述防滑垫(7)均安装在垫脚(6)下端,所述防滑垫(7)的材质为耐磨橡胶。

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