[实用新型]一种背发射极钝化接触电池、组件和系统有效
| 申请号: | 202023256661.0 | 申请日: | 2020-12-29 |
| 公开(公告)号: | CN214123895U | 公开(公告)日: | 2021-09-03 |
| 发明(设计)人: | 杜哲仁;马丽敏;陈程;包杰;陈嘉;林建伟 | 申请(专利权)人: | 泰州中来光电科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352;H01L31/068 |
| 代理公司: | 北京金之桥知识产权代理有限公司 11137 | 代理人: | 徐李娜 |
| 地址: | 225500 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 发射极 钝化 接触 电池 组件 系统 | ||
1.一种背发射极钝化接触电池,其特征在于:
所述电池中硅基体的正面从内到外依次设置有局域重掺杂层、钝化层、正面金属栅线,所述局域重掺杂层位于电池正面的金属接触区域,并与硅基底的掺杂类型一致,所述电池正面的非金属接触区域不作或仅作部分掺杂,所述正面金属栅线印刷于所述局域重掺杂层上;
所述硅基体的背面从内到外依次设置有掺杂多晶硅层、钝化层、背面金属栅线,所述掺杂多晶硅层与硅基体的掺杂类型相反。
2.根据权利要求1所述的背发射极钝化接触电池,其特征在于:所述硅基体的背面与掺杂多晶硅层之间还设有隧穿氧化层。
3.根据权利要求2所述的背发射极钝化接触电池,其特征在于:所述隧穿氧化层的厚度为1~10nm;且/或所述掺杂多晶硅层的厚度为30~300nm。
4.根据权利要求1所述的背发射极钝化接触电池,其特征在于:硅基体正面和/或背面的钝化层兼具减反效果。
5.根据权利要求4所述的背发射极钝化接触电池,其特征在于:所述钝化层为沉积在硅基体表面的钝化减反膜。
6.根据权利要求5所述的背发射极钝化接触电池,其特征在于:所述钝化减反膜包括从内到外依次设置的氧化铝钝化膜、氮化硅薄膜。
7.根据权利要求1~6任一项所述的背发射极钝化接触电池,其特征在于:
所述硅基体为N型硅基底,所述局域重掺杂层为硅基底正面上的N++重掺杂区域,所述掺杂多晶硅层为硼掺杂非晶硅层;或
所述硅基体为P型硅基底,所述局域重掺杂层为硅基底正面上的P++重掺杂区域,所述掺杂多晶硅层为磷掺杂非晶硅层。
8.一种背发射极钝化接触电池组件,包括由上至下依次设置的前层材料、封装材料、背发射极钝化接触电池、封装材料、背层材料;其特征在于:所述背发射极钝化接触电池是权利要求1~7任一项所述的背发射极钝化接触电池。
9.一种背发射极钝化接触电池系统,包括至少一个串联的背发射极钝化接触电池组件;其特征在于:所述背发射极钝化接触电池组件是权利要求8所述的背发射极钝化接触电池组件。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





