[实用新型]一种传感器校准系统

说明书

本实用新型公开了一种传感器校准系统，包括：机架、下模载具组件、冷热交换组件，下模载具组件设置在机架上，冷热交换组件设置在下模载具组件下方，用于调整下模载具组件上放置的传感器的测试温度。在具体测试时，冷热交换组件可实时调整测试温度，以通过常温、低温和高温三个温区对传感器进行测试校准，相对于传统的单温区测试方式，可有效降低操作难度，提高测试效率。此外通过上模压力调整组件和针板组件还可对传感器分别进行压力测试和功能校准，即通过该系统可完成传感器的三类测试，因此测试效率较高。

技术领域

本实用新型涉及传感器技术领域，特别涉及一种传感器校准系统。

背景技术

在传感器的生产过程中，需要对传感器进行三温测试，分别为常温测试、低温测试以及高温测试。

传统测温方式采用单一温区测试作业，依次进行单工位的测试，而且不同温区之间切换较为繁琐，从而提高了劳动强度，其次还存在测试效率低的问题，生产效率也较高。另外不同类型的传感器产品需要不同的设备去测试，因此成本较高且设备占用空间较大。

因此，如何提供一种测试灵活的传感器校准系统，是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种传感器校准系统，能够有效对传感器进行测试，而且系统结构简单，生产成本较低。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种传感器校准系统，包括：机架、下模载具组件、冷热交换组件，所述下模载具组件设置在所述机架上，所述冷热交换组件设置在所述下模载具组件下方，用于调整所述下模载具组件上放置的传感器的测试温度。

优选地，还包括设置在所述机架上的上模压力调整组件，所述上模压力调整组件包括升降组件、压板、加压模块和泄压模块，所述下模载具组件上设有凹槽，所述传感器设置在所述凹槽内，所述升降组件用于控制所述压板升降，当所述压板与所述下模载具组件接触而形成密闭腔室，所述加压模块用于给所述密闭腔室加压，所述泄压模块用于对所述密闭腔室泄压。

优选地，还包括针板组件，所述针板组件与所述压板连接，所述针板组件底部设有测试针，所述测试针用于在所述压板下移时，与传感器的引脚接触。

优选地，所述针板组件包括测试电路板、PEEK针板和针板固定板，所述针板固定板与所述压板连接，所述针板上设有加压进气孔和泄压孔，所述PEEK针板上设有用于放置所述测试针的探针孔，所述测试电路板和所述PEEK针板通过所述测试针连接，所述测试电路板通过排线与测试板卡连接。

优选地，所述下模载具组件包括底座和载具，所述底座上设有凹槽，所述载具设置在所述凹槽内，所述载具用于承载传感器，所述底座上表面设有用于放置密封圈的圈槽。

优选地，所述冷热交换组件包括加温通道、排气通道、温控腔体，所述温控腔体设置在所述底座下方，所述加温通道和所述排气通道与所述温控腔体连通，用于控制所述温控腔体内的温度，以调整传感器的测试温度。

优选地，所述底座上设有多个相互独立的凹槽，各所述凹槽内设有一个所述载具，所述上模压力调整组件包括多个与所述凹槽一一的加压模块和泄压模块。

优选地，所述机架上还设有导向组件，所述压板通过所述导向组件与所述机架连接。

优选地，所述机架上部还设有用于放置仪器仪表组件的框架。

优选地，所述机架底部设有调整其位置的移动组件。

与现有技术相比，上述技术方案具有以下优点：