[实用新型]电解抛光深度精密测量仪有效

专利信息
申请号: 202023099624.3 申请日: 2020-12-21
公开(公告)号: CN213778966U 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 郑轩 申请(专利权)人: 合图智造科技(西安)有限公司
主分类号: G01B21/18 分类号: G01B21/18;B25B11/00
代理公司: 北京维正专利代理有限公司 11508 代理人: 李传亮
地址: 710000 陕西省西安市未央区红旗东*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 电解 抛光 深度 精密 测量仪
【说明书】:

本申请涉及测量仪器的领域,尤其是涉及电解抛光深度精密测量仪,其包括平台支撑结构、旋转测试台结构和电解抛光支架结构;平台支撑结构包括四个支撑块和呈矩形的支撑体,支撑块通过设置的螺栓连接在支撑体下表面;旋转测试台结构包括平台旋转轴、测试台和滑动轨道,平台旋转轴为一圆柱体,平台旋转轴位于支撑体的圆柱形腔体内;测试台为矩形板,滑动轨道位于测试台上表面的一侧,滑动轨道横截面为工型结构的凸块;电解抛光支架结构设置在滑动轨道上,电解抛光支架结构包括纵向伸缩杆、横向伸缩杆和圆形夹紧器;纵向伸缩杆的下端面设有与滑动轨道相匹配的凹槽;所述圆形夹紧器上用于安装测量仪。本申请具有改善现有测量方法测量精度的效果。

技术领域

本申请涉及测量仪器的领域,尤其是涉及电解抛光深度精密测量仪。

背景技术

目前随着我国工业技术的迅速发展,我国的制造业如汽车、船舶、电站、航空航天等诸多领域对焊接结构的多样化、复杂化和可靠性提出了越来越严格的要求。焊接作为材料加工的重要组成部分,与螺栓连接和铆接相比有着质量轻、密闭好、强度高等诸多优点,其相关的工艺、结构设计以及性能分析一直以来备受关注。焊接技术是同种或异种材料通过加热或者加压或者两者并用,使用或者不适用填充材料,使工件的材质达到原子间结合而形成永久性连接的工艺。由此可见,焊接过程是一个局部不均匀加热的过程,经过焊接热源局部加热后的焊接结构内部会产生热应力,经过热过程的金属由于微观组织发生变化(相变应力)或者由于导热传热的不同在结构的约束下产生焊接结构的内部变化,并由此产生焊后残余变形和残余应力。随着焊接结构的复杂程度的提高,结构中的约束变大,结构内部的残余应力和变形现象也更加明显,残余应力对整个焊接结构的可靠性的影响就更明显。由焊接残余应力引发的工艺缺陷(例如热裂纹、应力腐蚀等)将会影响到结构的刚度、强度、疲劳寿命和尺寸稳定性,从而导致结构的可靠性降低。在新材料种类繁多、焊接结构越发复杂、焊接工艺越发先进、焊接产品可靠性要求越发严格的今天,对焊接结构残余应力的有效分析是焊接技术发展的重要环节。

为了对焊接结构对焊后残余应力进行更有效地、精确地分析,许多残余应力的测试方法应运而生。对于测试方法的分类从大的方向可以分成有损检测方法和无损检测方法。有损检测方法的原理是首先在需要测量残余应力的位置周围贴上应变片或者应变计,然后将需要测试残余应力的部分剥离出来或者分割出来,通过应变片测量材料分离前后的应变的变化量来计算测试点的残余应力,因为是通过宏观表征的应变来进行计算残余应力,因此其测试精度较高,但是对材料进行了破坏,影响到焊接产品的正常使用。无损检测方法是利用材料的物理特性与应力应变的关系,通过测量材料的某些物理参数的变化来计算材料的残余应力。

传统应力测量只能测量表面应力,作为利用射线衍射法测量材料内部残余应力的必要辅助措施,电解抛光的精度要求很高,现有方法采用接触式轮廓测量,严重影响了测量精度。

实用新型内容

为了改善现有测量方法的测量精度,本申请提供电解抛光深度精密测量仪。

本申请提供的电解抛光深度精密测量仪,采用如下的技术方案:

电解抛光深度精密测量仪,包括平台支撑结构、旋转测试台结构和电解抛光支架结构;

所述平台支撑结构起到固定平台以及调节高度的作用,包括四个支撑块和呈矩形的支撑体;四个支撑块位于支撑体的下底面用于支撑支撑体,支撑块通过设置的螺栓连接在支撑体下表面,通过螺栓连接可调节支撑体的支撑高度;

所述旋转测试台结构包括平台旋转轴、测试台以及可供安装电解抛光支架结构的滑动轨道,通过平台旋转轴来研究测试被测点在横向和纵向的残余应力,并通过六角螺栓固定旋转后的平台旋转轴防止平台晃动造成测量误差;平台旋转轴为一圆柱体,平台旋转轴位于支撑体的圆柱形腔体内,平台旋转轴相对于支撑体可旋转和固定;平台旋转轴的上圆柱端面固定测试台,测试台为矩形板,滑动轨道位于测试台上表面的一侧,滑动轨道横截面为工型结构的凸块;

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