[实用新型]ALD沉积电流扩展层的LED芯片结构有效
申请号: | 202023082740.4 | 申请日: | 2020-12-18 |
公开(公告)号: | CN214336733U | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
发明(设计)人: | 闫晓密 | 申请(专利权)人: | 普瑞(无锡)研发有限公司 |
主分类号: | H01L33/14 | 分类号: | H01L33/14;H01L33/06;H01L33/32;H01L33/00 |
代理公司: | 江苏漫修律师事务所 32291 | 代理人: | 熊启奎;周晓东 |
地址: | 214192 江苏省无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | ald 沉积 电流 扩展 led 芯片 结构 | ||
1.一种ALD沉积电流扩展层的LED芯片结构,其特征在于:在芯片衬底(1)上生长LED芯片外延结构,在LED芯片外延结构上设有透明导电层,透明导电层包括ITO膜(7),以及铝原子层(8)和氧化铝膜(9)形成的以铝原子为核,氧化铝为壳的核壳结构膜。
2.根据权利要求1所述的ALD沉积电流扩展层的LED芯片结构,其特征在于:以铝原子为核,氧化铝为壳的核壳结构膜的厚度为
3.根据权利要求1所述的ALD沉积电流扩展层的LED芯片结构,其特征在于:LED芯片外延结构是依次生长的缓冲层(2)、U-GaN层(3)、N-GaN层(4)、多量子阱层(5)和P-GaN层(6),或者是依次生长的N-GaN层(4)、多量子阱层(5)和P-GaN层(6)。
4.根据权利要求1所述的ALD沉积电流扩展层的LED芯片结构,其特征在于:通过ICP刻蚀技术将暴漏区域的N-GaN层(4)刻蚀出来,形成N-GaN台阶。
5.根据权利要求1所述的ALD沉积电流扩展层的LED芯片结构,其特征在于:通过电子束蒸发技术制作N、P焊盘电极(10)。
6.根据权利要求1所述的ALD沉积电流扩展层的LED芯片结构,其特征在于:芯片衬底(1)为蓝宝石、硅片、碳化硅片或金属。
7.根据权利要求1所述的ALD沉积电流扩展层的LED芯片结构,其特征在于:利用电子束蒸发技术镀ITO膜(7)。
8.根据权利要求1所述的ALD沉积电流扩展层的LED芯片结构,其特征在于:利用电子束蒸发技术镀铝原子层(8)和利用ALD技术沉积氧化铝膜(9)形成以铝原子为核,氧化铝为壳的核壳结构膜。
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