[实用新型]一种电子元件加工用转台式测试装置有效
| 申请号: | 202023078167.X | 申请日: | 2020-12-20 |
| 公开(公告)号: | CN213780173U | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
| 发明(设计)人: | 尤琳 | 申请(专利权)人: | 上海今久机电有限公司 |
| 主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;F16H1/14 |
| 代理公司: | 广州科捷知识产权代理事务所(普通合伙) 44560 | 代理人: | 袁嘉恩 |
| 地址: | 201507 上海市金山区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 电子元件 工用 转台 测试 装置 | ||
1.一种电子元件加工用转台式测试装置,包括底座(1),其特征在于,所述底座(1)上转动连接有平台(2),所述平台(2)的底部外侧设有多个可转动的板体组件,所述平台(2)的内部具有腔体(3),且腔体(3)的内部设有用于带动板体组件转动的驱动组件,所述板体组件由第一板体(4)和第二板体(5)组成,所述第一板体(4)和第二板体(5)的同一侧通过铰链转动连接,另一侧均为倾斜面,所述第一板体(4)和第二板体(5)的倾斜面上均具有相互吸合的磁块(6),所述驱动组件由驱动齿轮(7)、传动杆(8)以及从动齿轮(10)组成,所述传动杆(8)的轴向两端均固定连接有传动齿轮(9),所述驱动齿轮(7)与平台(2)转动连接,并且位于平台(2)顶部的中心处,所述从动齿轮(10)与第一板体(4)固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种电子元件加工用转台式测试装置,其特征在于,所述平台(2)为上大下小的圆台形结构,所述第一板体(4)和第二板体(5)靠近平台(2)一侧的端面均为贴合平台(2)的倾斜弧形结构。
3.根据权利要求1所述的一种电子元件加工用转台式测试装置,其特征在于,所述第一板体(4)和第二板体(5)中任意一个上的磁块(6)向外侧凸出,另一个上的磁块(6)向内侧凹陷,所述第一板体(4)和第二板体(5)上的倾斜面可相互贴合。
4.根据权利要求1所述的一种电子元件加工用转台式测试装置,其特征在于,所述驱动齿轮(7)的顶部具有卡槽(11),并且内部具有贯穿的螺纹装配孔(12)。
5.根据权利要求1所述的一种电子元件加工用转台式测试装置,其特征在于,所述驱动齿轮(7)的下方设有与腔体(3)固定连接的内侧具有螺纹的管体(13)。
6.根据权利要求5所述的一种电子元件加工用转台式测试装置,其特征在于,所述驱动齿轮(7)和管体(13)之间通过螺栓旋合连接。
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