[实用新型]一种集成电路封装测试用可调节夹具

权利要求书

1.一种集成电路封装测试用可调节夹具，包括夹具结构(1)，所述夹具结构(1)包括探针(18)，其特征在于：所述夹具结构(1)还包括主架(2)和调节主体(3)，所述调节主体(3)滑动安装在主架(2)的内端；所述主架(2)还包括压板(4)、第一滑槽(5)、摆臂(7)、固定桩(8)、托盘(9)、弹簧(11)、滑杆(12)、推块(13)和第二滑槽(14)，所述第一滑槽(5)镂空开设在压板(4)的外端，所述摆臂(7)的上端固定安装在第一滑槽(5)的后端，所述摆臂(7)的下端转动安装在固定桩(8)的上端，所述固定桩(8)的下端固定连接在托盘(9)的上端后部，所述弹簧(11)滑动套接安装在滑杆(12)的外侧，所述弹簧(11)的一端与滑杆(12)固定安装在一起，所述弹簧(11)的另一端与托盘(9)固定连接在一起，所述滑杆(12)滑动贯穿托盘(9)，所述滑杆(12)与推块(13)固定连接在一起，所述推块(13)滑动安装在第二滑槽(14)的内端，所述第二滑槽(14)开设在托盘(9)的上壁；所述调节主体(3)还包括弹片(15)和槽口(17)，所述弹片(15)设置有一对，所述弹片(15)的下端相互固定连接在一起，所述槽口(17)开设在弹片(15)之间，所述探针(18)的上端固定安装在弹片(15)的下端；所述弹片(15)滑动安装在第一滑槽(5)的内壁，所述弹片(15)的下部外端与第一滑槽(5)的内壁挤压在一起，所述探针(18)与外接检测装置电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路封装测试用可调节夹具，其特征在于：所述主架(2)还包括重块(6)，所述重块(6)固定连接在摆臂(7)的上端。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路封装测试用可调节夹具，其特征在于：所述主架(2)还包括拉钮(10)，所述拉钮(10)固定连接在滑杆(12)的外端。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路封装测试用可调节夹具，其特征在于：所述调节主体(3)还包括V型弹簧(16)，所述V型弹簧(16)的上端固定连接在弹片(15)的内端。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路封装测试用可调节夹具，其特征在于：所述调节主体(3)还包括皮块(19)，所述皮块(19)设置有一对，所述皮块(19)对称设置在弹片(15)的下部外端，所述皮块(19)嵌接固定安装在弹片(15)的下部外壁，所述皮块(19)的外端挤压在第一滑槽(5)的内壁。