[实用新型]一种便于观察的芯片检查盘

说明书

本实用新型公开了一种便于观察的芯片检查盘，包括检查盘主体和盖板，检查盘主体的中部为内凹，且检查盘主体中部设有若干放置孔，放置孔呈矩阵阵列分布，检查盘主体的前后两端设有两组开槽，盖板穿过对应组的开槽位于各放置孔的上方或者下方，该便于观察的芯片检查盘中，由盖板插入到对应组的开槽中，能够对芯片正反面进行快速限位，随后便于观察，进而提高了检测的效率，提高了检查盘的实用性。

技术领域

本实用新型涉及电力电子生产配套设备领域，具体涉及一种便于观察的芯片检查盘。

背景技术

在芯片生产中，无论是产品电镀，还是外观检测，目前都是需要将芯片防止在检查盘或者调度盘中，由工人通过目测来进行检验。检查完一面以后，还需要将各芯片翻转然后进行检测，不仅效率低下，而且错误率较高。

综上所述，设计一种便于观察的芯片检查盘。

实用新型内容

本实用新型为了克服上述的不足，提供一种便于观察的芯片检查盘。

本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的：

一种便于观察的芯片检查盘，包括检查盘主体和盖板，检查盘主体的中部为内凹，且检查盘主体中部设有若干放置孔，放置孔呈矩阵阵列分布，检查盘主体的前后两端设有两组开槽，盖板穿过对应组的开槽位于各放置孔的上方或者下方。

优选的，所述检查盘主体的前端设有两个基座，基座位于两个开槽之间，基座的上端面以及下端面上均设有一个玻珠螺丝，盖板上设有两个限位槽，玻珠螺丝能够嵌入到对应的限位槽中。

优选的，所述盖板由透明玻璃制成。

优选的，所述放置孔的槽口均为喇叭口。

本实用新型的有益效果是：该便于观察的芯片检查盘中，由盖板插入到对应组的开槽中，能够对芯片正反面进行快速限位，随后便于观察，进而提高了检测的效率，提高了检查盘的实用性。

附图说明

本实用新型将通过例子并参照附图的方式说明，其中：

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型的俯视图；

图3是本实用新型的右视图；

图4是本实用新型的盖板的结构示意图。

图中：1.检查盘主体，2.放置孔，3.盖板，4.基座，5.玻珠螺丝，6.限位槽。

具体实施方式

现在结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此其仅显示与本实用新型有关的构成。

如图1-图4所示，一种便于观察的芯片检查盘，包括检查盘主体1和盖板3，检查盘主体1的中部为内凹，且检查盘主体1中部设有若干放置孔2，放置孔2呈矩阵阵列分布，检查盘主体1的前后两端设有两组开槽，盖板3穿过对应组的开槽位于各放置孔2的上方或者下方。

该便于观察的芯片检查盘的工作原理是，首先将盖板3穿过位于检查盘主体1下半部分的该组开槽，盖板3贴近各放置孔2的下方，随后将各芯片放入到对应的放置槽中，工作人员可以由上方进行检查；检查完一面以后，将另一块盖板3穿过位于检查盘主体1上半部分的该组开槽，该盖板3就会贴近各放置孔2的上方，随后翻转检查盘主体1，抽出之前一块盖板3，工作人员就能够迅速对芯片另一面进行检查。

具体的，所述检查盘主体1的前端设有两个基座4，基座4位于两个开槽之间，基座4的上端面以及下端面上均设有一个玻珠螺丝5，盖板3上设有两个限位槽6，玻珠螺丝5能够嵌入到对应的限位槽6中，盖板3穿过对应组开槽以后，玻珠螺丝5嵌入到对应的限位槽6中，进而可以实现盖板3与检查盘主体1之间的定位。