[实用新型]一种半导体金属材料通用测试夹具

权利要求书

1.一种半导体金属材料通用测试夹具，包括支撑台（1），其特征在于，所述支撑台（1）的顶部侧壁通过调节机构对称连接有两个支撑箱（2），位于两个所述支撑箱（2）之外支撑台（1）的顶部侧壁上对称固定连接有支撑板（3），两块所述支撑板（3）的上端共同固定连接有顶板（4），所述顶板（4）底部侧壁的中部安装有测试设备（5），两个所述支撑箱（2）相向箱壁的中部通过轴承转动连接有转杆（6），两根所述转杆（6）相向的一端均固定连接有卡板（7），所述转杆（6）的另一端固定连接有齿轮（8），两个所述支撑箱（2）相背的箱壁上对称开设有滑孔（9），所述支撑箱（2）远离滑孔（9）的内孔壁上固定连接有拉簧（10），且拉簧（10）套设在齿轮（8）上，所述拉簧（10）的另一端固定连接有齿筒（11），且齿筒（11）远离拉簧（10）的一端穿过滑孔（9）并向外延伸，所述齿筒（11）靠近卡板（7）的内筒壁上固定设有一圈齿牙，且齿筒（11）通过齿牙与齿轮（8）相啮合。

2.根据权利要求1所述的一种半导体金属材料通用测试夹具，其特征在于，所述调节机构包括调节槽（12）、螺杆（13）、螺纹套筒（14）和连杆（15），所述调节槽（12）开设在支撑台（1）的顶部侧壁上，所述螺杆（13）通过两个轴承转动连接在调节槽（12）内，且螺杆（13）的杆壁上固定设有对称设置的螺纹，所述螺杆（13）的两端贯穿支撑台（1）并向外延伸，两个所述螺纹套筒（14）对称螺纹连接在螺杆（13）上，所述连杆（15）固定连接在螺纹套筒（14）的顶部筒壁上，所述连杆（15）的上端穿过调节槽（12）的槽口并向上延伸，且与支撑箱（2）固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种半导体金属材料通用测试夹具，其特征在于，所述齿筒（11）的相背外筒壁上对称开设有限位槽（16），所述限位槽（16）内滑动连接有限位块（17），所述限位块（17）远离限位槽（16）槽底的一端穿过限位槽（16）的槽口并向外延伸，且与滑孔（9）的孔壁固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种半导体金属材料通用测试夹具，其特征在于，所述齿筒（11）远离卡板（7）的内筒壁上固定连接有拉杆（18）。

5.根据权利要求2所述的一种半导体金属材料通用测试夹具，其特征在于，所述螺杆（13）的两端均固定连接有把手。

6.根据权利要求1所述的一种半导体金属材料通用测试夹具，其特征在于，两块所述卡板（7）相向的侧壁上均固定连接有橡胶垫，所述支撑台（1）、支撑板（3）、顶板（4）、支撑箱（2）和齿筒（11）上均涂有防锈漆。