[实用新型]一种高精度回路电阻测试仪有效
| 申请号: | 202023024753.6 | 申请日: | 2020-12-16 |
| 公开(公告)号: | CN213814361U | 公开(公告)日: | 2021-07-27 |
| 发明(设计)人: | 蔡念斗;骆树雄 | 申请(专利权)人: | 武汉诺顿电气有限公司 |
| 主分类号: | G05B19/042 | 分类号: | G05B19/042 |
| 代理公司: | 武汉红观专利代理事务所(普通合伙) 42247 | 代理人: | 李季 |
| 地址: | 430000 湖北省武汉市东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 高精度 回路 电阻 测试仪 | ||
1.一种高精度回路电阻测试仪,包括100A恒流源、霍尔传感器、电流采样电路及AD转换电路,100A恒流源与被测试品构成电流回路,霍尔传感器的一次侧连接100A恒流源,其特征在于,电流采样电路包括运算放大器U1~U2、电阻R1~R4及电容C1;
霍尔传感器的二次侧连接运算放大器U1的同相输入端,运算放大器U1的反相输入端连接运算放大器U1的输出端,运算放大器U1的输出端还依次经电阻R1、电容C1接地,电阻R1与电容C1的公共端经电阻R2连接运算放大器U2的同相输入端,运算放大器U2的输出端依次经电阻R4、电阻R3接地,电阻R4与电阻R3的公共端连接运算放大器U2的反相输入端,运算放大器U2的输出端还连接AD转换电路的模拟输入端。
2.如权利要求1所述的高精度回路电阻测试仪,其特征在于,电阻R3为可变电阻。
3.如权利要求1所述的高精度回路电阻测试仪,其特征在于,还包括单片机及电压采样电路,电压采样电路分别连接被测试品的两端,电压采样电路的输出端连接AD转换电路的模拟输入端,AD转换电路的输出端连接单片机。
4.如权利要求3所述的高精度回路电阻测试仪,其特征在于,电压采样电路包括运算放大器U3~U4及电阻R12~R17;
被测试品的一端依次经电阻R12、电阻R14接地,电阻R12与电阻R14的公共端连接运算放大器U3的反相输入端,运算放大器U3的输出端连接AD转换电路的模拟输入端,被测试品的另一端依次经电阻R13、电阻R15、电阻R16、电阻R17连接运算放大器U3的输出端,电阻R13与电阻R15的公共端连接运算放大器U3的同相输入端,电阻R15与电阻R16的公共端连接运算放大器U4的输出端,电阻R16与电阻R17的公共端连接运算放大器U4的反相输入端,运算放大器U4的同相输入端接地。
5.如权利要求3所述的高精度回路电阻测试仪,其特征在于,AD转换电路包括AD7714芯片,运算放大器U2的输出端连接AD7714芯片的ANI2引脚,运算放大器U3的输出端连接AD7714芯片的ANI1引脚,AD7714芯片的DOUT引脚连接单片机。
6.如权利要求5所述的高精度回路电阻测试仪,其特征在于,单片机包括STM32处理器。
7.如权利要求6所述的高精度回路电阻测试仪,其特征在于,AD转换电路还包括光耦及电阻R8~R9,光耦接入AD7714芯片的DOUT引脚与STM32处理器之间,3.3V电源依次经电阻R8、光耦的发光二极管连接AD7714芯片的DOUT引脚,3.3V电源依次经电阻R9、光耦的光敏三极管接地,光耦的输出端连接STM32处理器。
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