[实用新型]光谱测量系统

说明书

本实用新型提供一种光谱测量系统，所述光谱测量系统包括：探测器；测量装置，所述测量装置与所述探测器电连接，所述测量装置用于驱动所述探测器测量目标光谱信息；温控装置，所述温控装置与所述探测器连接，所述温控装置用于控制所述探测器的温度。本实用新型提供的光谱测量系统，通过设置测量装置来驱动探测器稳定工作，通过设置温控装置来控制探测器的温度，能够降低探测器的测量噪声，提高信噪比，从而提高测量精度。

技术领域

本实用新型涉及光电技术领域，尤其涉及一种光谱测量系统。

背景技术

短波红外主要来源于太阳光源、高温物体主动热辐射以及人工短波红外光源等。很多地物目标在短波红外波段具有丰富的光谱特征和较高的光谱反射率。因此，短波红外探测技术可应用在军事上、深空探测领域、生物医疗、集成电路缺陷检测以及艺术品鉴别等领域。在应用短波红外技术时，需要测量短波红外连续光谱的波长和强度。

目前的光谱测量系统，具有较大的噪声波动，测量到的光谱信息不准确。

实用新型内容

本实用新型提供一种光谱测量系统，用以解决现有技术中高温会使得探测器产生较大的噪声波动，使得光谱测量系统测量结果不准确的缺陷，实现降低探测器的测量噪声，提高信噪比，从而提高测量精度。

本实用新型提供一种光谱测量系统，所述光谱测量系统包括：探测器；测量装置，所述测量装置与所述探测器电连接，所述测量装置用于驱动所述探测器测量目标光谱信息；温控装置，所述温控装置与所述探测器连接，所述温控装置用于控制所述探测器的温度。

根据本实用新型提供一种的光谱测量系统，所述温控装置包括：第一制冷器，所述第一制冷器用于给所述探测器的外部环境降温；第二制冷器，所述第二制冷器用于给所述探测器的内部环境降温；温控芯片，所述第一制冷器与所述第二制冷器均与所述温控芯片电连接。

根据本实用新型提供一种的光谱测量系统，所述温控装置包括：第一温度传感器，所述第一温度传感器设于所述探测器外，所述第一温度传感器与所述温控芯片电连接，所述温控芯片设置为基于所述第一温度传感器获取的所述探测器的外部环境温度，控制所述第一制冷器和所述第二制冷器。

根据本实用新型提供一种的光谱测量系统，所述温控芯片设置为若所述探测器的外部环境温度低于预设温度阈值时，启动所述第二制冷器。

根据本实用新型提供一种的光谱测量系统，所述温控装置还包括：第一驱动电路，所述第一制冷器通过所述第一驱动电路与所述温控芯片电连接，所述第一驱动电路包括MOS管桥式开关电路。

根据本实用新型提供一种的光谱测量系统，所述第一制冷器与所述探测器通过导热金属连接，所述导热金属与所述探测器之间设有导热硅脂。

根据本实用新型提供一种的光谱测量系统，所述温控装置还包括：第二温度传感器，所述第二温度传感器设于所述探测器内，所述第二温度传感器与所述温控芯片电连接，所述温控芯片设置为基于所述第二温度传感器获取的所述探测器的外部环境温度，控制所述第二制冷器。

根据本实用新型提供一种的光谱测量系统，所述第二温度传感器为热敏电阻。

根据本实用新型提供一种的光谱测量系统，所述温控装置还包括：第二驱动电路，所述第二制冷器通过所述第二驱动电路与所述温控芯片电连接，所述第二驱动电路包括OPA549功率运算放大器。

根据本实用新型提供一种的光谱测量系统，所述测量装置包括：模拟信号处理器，所述模拟信号处理器与所述探测器电连接；A/D采集器，所述A/D采集器与所述模拟信号处理器电连接；测量芯片，所述测量芯片的输出端与所述探测器电连接，所述测量芯片的输入端与所述A/D采集器电连接。

本实用新型提供的光谱测量系统，通过设置测量装置来驱动探测器稳定工作，通过设置温控装置来控制探测器的温度，能够降低探测器的测量噪声，提高信噪比，从而提高测量精度。