[实用新型]一种接触电阻测试装置有效

专利信息
申请号: 202022988402.0 申请日: 2020-12-11
公开(公告)号: CN214252431U 公开(公告)日: 2021-09-21
发明(设计)人: 冯柳君;尤佳文 申请(专利权)人: 纳峰新能源科技(上海)有限公司;纳峰真空镀膜(上海)有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G01R1/04
代理公司: 上海兆丰知识产权代理事务所(有限合伙) 31241 代理人: 张磊
地址: 201703 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 接触 电阻 测试 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种接触电阻测试装置,包括:上测试头和下测试头,所述下测试头固定设置,所述上测试头被配置为可移动地相对设于所述下测试头的上方;升降模组,用于驱动所述上测试头作指向所述下测试头的移动,并在所述上测试头降落至与置于所述下测试头上的被测产品的表面接触时,能够卸除传递给所述上测试头的驱动力;质量块,用于对降落在被测产品表面上的所述上测试头提供垂直方向上的固定荷载。本实用新型能够确保在测试头与产品表面之间形成稳定的接触压力,因而保证了测试压力的准确性和测试结果的一致性,不仅能快速准确地测出电阻值,且操作极为方便。

技术领域

本实用新型涉及一种用于电学测试领域的接触电阻测试装置。

背景技术

目前,针对表面具有金属覆膜(镀层)的产品(例如电路板),往往需要进行接触电阻测试。在使用测试设备进行接触电阻测试时,测试设备上的测试头(探针)与被测试产品表面之间的接触压力大小,对接触电阻的测量结果具有重要影响。

为了保证重复性测试时多次测量值之间的一致性,需要对测试头压到产品表面上时的接触压力作出一个适当的规定,并采取一定的手段对该接触压力的大小是否满足要求进行检测。

现有的测试设备通常是采用压力机构对测试头(或对产品)进行施压,使测试头以一定的压力与产品表面接触进行测试,同时,采用压力传感器对压力机构的施力大小进行检测。

然而,上述现有测试方式,并不能确保在测试头与产品表面之间形成稳定的接触压力,并由此造成重复性测试时多次测量值之间的一致性较差问题产生,这经常会导致在产品供方与客户之间因测试方法的差异而产生质量异议。

因此,设计一种能够保证测试时接触压力稳定性的新型接触电阻测试装置,就成为业界的共同需要。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了克服现有技术的不足,提供一种接触电阻测试装置。

本实用新型实现上述目的的一种技术方案是:

一种接触电阻测试装置,包括:

上测试头和下测试头,所述下测试头固定设置,所述上测试头被配置为可移动地相对设于所述下测试头的上方;

升降模组,用于驱动所述上测试头作指向所述下测试头的移动,并在所述上测试头降落至与置于所述下测试头上的被测产品的表面接触时,能够卸除传递给所述上测试头的驱动力;

质量块,用于对降落在被测产品表面上的所述上测试头提供垂直方向上的固定荷载。

进一步地,所述升降模组包括动力机构和导向机构;其中,所述导向机构与所述上测试头相连,用于引导所述上测试头沿其导向移动,所述动力机构设有运动部,所述运动部自下方抵接于所述导向机构上,并在带动所述导向机构及其连接的所述上测试头下降与被测产品的表面接触时,脱离所述导向机构。

进一步地,所述导向机构包括分立于所述上测试头两侧的一副导轨,对应设于所述导轨上的滑块,以及连接于两侧所述滑块之间的支架,所述上测试头设于所述支架的下表面上,所述运动部自下方抵接于所述支架上。

进一步地,所述动力机构还设有本体,所述运动部可移动地容于所述本体中,所述支架包括相连的第一支架部和第二支架部,所述第一支架部的两端连接所述滑块,所述上测试头设于所述第一支架部的下表面上,所述第一支架部上设有过孔,所述第二支架部设于所述过孔的上方且与所述第一支架部保持一定距离,所述本体穿设于所述过孔中,所述运动部被配置为在升起时将所述第二支架部及其连接的所述第一支架部沿所述导轨顶起,使所述上测试头与被测产品的上表面相分离,以及在下降至所述上测试头与被测产品的上表面相接触时继续向所述本体中回缩,使得所述运动部以及所述本体与所述第二支架部之间保持分离状态进行测试。

进一步地,两个所述动力机构分别与所述支架配合,并分置位于所述上测试头的两侧。

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