[实用新型]一种滚动面缺陷检测系统有效

专利信息
申请号: 202022974685.3 申请日: 2020-12-08
公开(公告)号: CN213903339U 公开(公告)日: 2021-08-06
发明(设计)人: 朱勇建;刘浩;黄篷迟;蒋明;朱君 申请(专利权)人: 广西师范大学
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/01
代理公司: 深圳市智享知识产权代理有限公司 44361 代理人: 梁琴琴
地址: 541004 广西壮*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: 一种 滚动 缺陷 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种滚动面缺陷检测系统,用于检测滚动面的缺陷,其特征在于:所述滚动面缺陷检测系统包括控制装置、光源发生装置、光束整形装置、振镜和识别装置,所述光束整形装置及所述振镜依次设置在所述光源发生装置与待测滚动面之间的光路上,所述光源发生装置、所述振镜和所述识别装置均与所述控制装置通信连接;

所述光束整形装置将所述光源发生装置发出的光束调整为平顶光束,平顶光束通过所述振镜扫描后投射到所述待测滚动面形成条纹,所述控制装置调整所述振镜的驱动信号以调整投射到所述待测滚动面上的条纹的位置,所述识别装置拍摄所述待测滚动面获取多幅目标图像并根据多幅所述目标图像检测所述待测滚动面的缺陷。

2.如权利要求1所述的滚动面缺陷检测系统,其特征在于:所述光束整形装置进一步包括扩束准直器和光束整形器,所述光源发生装置发出的光束依次通过所述扩束准直器和所述光束整形器以调整为平顶光束。

3.如权利要求2所述的滚动面缺陷检测系统,其特征在于:所述光源发生装置进一步包括半导体红外激光器,所述控制装置与所述半导体红外激光器通信连接,所述控制装置对所述半导体红外激光器进行调制以使所述半导体红外激光器产生光强呈周期性发生变化的光束。

4.如权利要求1所述的滚动面缺陷检测系统,其特征在于:所述识别装置进一步包括拍摄装置和处理装置,所述拍摄装置与所述处理装置通信连接;

所述拍摄装置拍摄所述待测滚动面的同一位置,并获取所述振镜从扫描起点扫描到扫描终点时所述待测滚动面的所述目标图像,所述处理装置接收所述目标图像并对所述目标图像进行分析。

5.如权利要求4所述的滚动面缺陷检测系统,其特征在于:所述拍摄装置进一步包括相机及镜头,所述相机为线阵相机;所述镜头为远心镜头。

6.如权利要求2所述的滚动面缺陷检测系统,其特征在于:所述滚动面缺陷检测系统进一步包括转动装置,所述转动装置设置在所述待测滚动面的底部,所述转动装置用于带动所述待测滚动面转动。

7.如权利要求1所述的滚动面缺陷检测系统,其特征在于:所述振镜为MEMS振镜。

8.如权利要求1所述的滚动面缺陷检测系统,其特征在于:所述振镜与所述待测滚动面之间的距离为0.6m-1m。

9.如权利要求1所述的滚动面缺陷检测系统,其特征在于:所述滚动面缺陷检测系统进一步包括反射镜,所述反射镜设置在所述光束整形装置与所述振镜之间的光路上。

10.如权利要求9所述的滚动面缺陷检测系统,其特征在于:初始状态下,所述反射镜与所述振镜平行设置。

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