[实用新型]一种配合LCR表测试小封装体多引脚电子元器件的夹具

说明书

本实用新型公开了一种配合LCR表测试小封装体多引脚电子元器件的夹具，包括BNC公头接头、射频同轴电缆和探针，所述探针设有两根，射频同轴电缆设有四根，BNC公头接头设有四个，其中一根探针的尾部连接有两根射频同轴电缆，且这两根射频同轴电缆之间通过绝缘胶带固定；每根射频同轴电缆上均固定连接有BNC公头接头；本实用新型改进了现有的测试夹具，解决了现有夹具做不到的两个问题；使用新设计的夹具与设备配合，给测试认证提供一个简单、准确、便捷的方法。

技术领域

本实用新型涉及电子器件测试夹具领域，具体是一种配合LCR表测试小封装体多引脚电子元器件的夹具。

背景技术

LCR表，顾名思义是用于测量电器元器件本证参数的专用测量工具，L指的是电感，C指的是电容，R指的是电阻；除此之外LCR表不能测量其他的，而且需在电路断电情况下测量电感，电阻或者电容；因为是专用仪表，所以测量精度高，准确性强；基本测量误差为0.02％，一般均在0.1％左右。

LCR表主要有设备和测试夹具两部分组成，之前的电子元器件结果比较简单，体积较大，很多还是插件；随时微电子的快速发展，很多电子产品向小型化，超薄化，集成化发展，需要更好的夹具与LCR表配合使用。

LCR的根据频率和测试精度分成非常多的型号，目前配合LCR表的夹具分别是夹式和水平针式夹具，可以应用一般的电阻器件、电感器件和电容器件的测量，随着微电子的发展，新的封装形式越来越多，新封装的发展方向是小型化，集成化，特别是DFN封装的应用越来越多，例如DFN1006-3L(长1mm，宽0.6mm，3个引脚)、DFN0603-2L(长0.6mm，宽0.3mm，2个引脚)、DFN2510-10L(长2.5mm，宽1.0mm，10个引脚)等，这些封装的的引脚面积和间距非常小，上面的3种夹具无法直接测量，只能间接测试，具体方法是把这些产品焊接在PCB板上引出测试线进行测试，但是测试板和引线本身存在寄生电容，电阻和电感，在测试一些参数小的产品时，这些寄生参数会对测试结果有非常大的干扰，严重影响测试结果和工作效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种配合LCR表测试小封装体多引脚电子元器件的夹具，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种配合LCR表测试小封装体多引脚电子元器件的夹具，包括BNC公头接头、射频同轴电缆和探针，所述探针设有两根，射频同轴电缆设有四根，BNC公头接头设有四个，其中一根探针的尾部连接有两根射频同轴电缆，且这两根射频同轴电缆之间通过绝缘胶带固定；每根射频同轴电缆上均固定连接有BNC公头接头。

进一步的，所述BNC公头接头的芯为镀金材质，阻抗为50欧姆。

进一步的，所述射频同轴电缆为屏蔽线缆，符合军标，阻抗为50欧姆。

进一步的，所述探针为镀金材质。

进一步的，所述探针长度为20-30mm。

进一步的，所述射频同轴电缆的长度小于70厘米。

进一步的，所述探针与射频同轴电缆连接处卷绕有若干圈绝缘胶带，且这些绝缘胶带形成圆锥形的握持部。

进一步的，所述探针与射频同轴电缆连接处设有握持卡件，其中握持卡件具体包括两个相互扣合的半壳体，其中握持卡件的尾部开设有用于卡装射频同轴电缆的线缆卡槽，握持卡件的头部开设有用于卡装探针的探针卡槽，线缆卡槽与探针卡槽连通，且在线缆卡槽与探针卡槽的连接处射频同轴电缆与探针焊接连接；半壳体的顶部中心处开设有若干沉头孔，沉头孔内设有固定螺栓，两个半壳体之间通过固定螺栓固定连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

改进了现有的测试夹具，解决了现有夹具做不到的两个问题：