[实用新型]太赫兹三维层析成像系统样品位置自动调节装置

权利要求书

1.一种太赫兹三维层析成像系统样品位置自动调节装置，其特征在于，包括发射光路单元、探测光路单元、可见激光测距仪、升降平移台；发射光路单元固定端和探测光路单元固定端均转动连接在转轴上，可见激光测距仪固定在发射光路单元光轴和探测光路单元光轴形成的夹角的角平分线上，且可见激光测距仪发出的激光与发射光路单元光轴和探测光路单元光轴在同一平面上，可见激光测距仪发出的激光、发射光路单元光轴和探测光路单元光轴相交于一点，该交点为样品最佳放置点，升降平移台上表面垂直于所述平面，同时可见激光测距仪发出的激光也垂直于升降平移台上表面，样品固定在升降平移台上表面，左右或前后移动升降平移台，使可见激光测距仪发出的激光光斑落在待测样品表面，可见激光测距仪能够检测可见激光测距仪到样品上表面的距离，基于可见激光测距仪检测的距离调整升降平移台，使样品置于最佳样品放置点，实现最大信噪比的成像。

2.根据权利要求1所述的太赫兹三维层析成像系统样品位置自动调节装置，其特征在于，太赫兹三维层析成像系统样品位置自动调节装置，还包括实时反馈系统，实时反馈系统分别与可见光激光测距仪、升降平移台相连接。

3.根据权利要求2所述的太赫兹三维层析成像系统样品位置自动调节装置，其特征在于，所述太赫兹三维层析成像系统样品位置自动调节装置，还包括圆弧标尺，圆弧标尺平行于所述平面设置，且圆弧标尺圆心固定在转轴上。

4.根据权利要求3所述的太赫兹三维层析成像系统样品位置自动调节装置，其特征在于，圆弧标尺上的刻度对称设置，由圆弧标尺对称轴向两边从0开始逐渐增大，发射光路单元和探测光路单元以圆弧标尺对称轴对称设置。

5.根据权利要求4所述的太赫兹三维层析成像系统样品位置自动调节装置，其特征在于，沿角平分线固定设置一螺杆，螺杆一端与步进电机转动连接，在螺杆上螺纹连接一滑块，发射光路单元连杆一端与发射光路单元移动端转动连接，探测光路单元连杆一端与探测光路单元移动端转动连接，发射光路单元连杆另一端与探测光路单元连杆另一端铰接于滑块上,构成一平行四边形。

6.根据权利要求5所述的太赫兹三维层析成像系统样品位置自动调节装置，其特征在于，所述发射光路单元包括太赫兹发射天线、第一准直透镜、第一聚焦透镜和发射光路单元转动杆，太赫兹发射天线、第一准直透镜和第一聚焦透镜集成于一个镜筒中，发射光路单元组成的镜筒固定在发射光路单元转动杆上，发射光路单元转动杆固定端与转轴转动连接，发射光路单元连杆转动连接在发射光路单元转动杆移动端，发射光路单元转动杆移动端为指针状，发射光路单元转动杆靠近圆弧标尺设置，能够直接指示圆弧标尺上的刻度，得到发射光路单元与角平分线之间的夹角大小，同理，所述探测光路单元包括第二聚焦透镜、第二准直透镜、太赫兹探测天线和探测光路单元转动杆，第二聚焦透镜、第二准直透镜和太赫兹探测天线集成于一个镜筒中，探测光路单元集成的镜筒固定在探测光路单元转动杆上，探测光路单元转动杆固定端与转轴转动连接，探测光路单元连杆转动连接在探测光路单元转动杆移动端，探测光路单元转动杆移动端为为指针状，探测光路单元转动杆靠近圆弧标尺设置，能够直接指示圆弧标尺上的刻度，得到探测光路单元与角平分线之间的夹角大小。

7.根据权利要求6所述的太赫兹三维层析成像系统样品位置自动调节装置，其特征在于，可见激光测距仪固定在步进电机和滑块之间的螺杆上。

8.根据权利要求7所述的太赫兹三维层析成像系统样品位置自动调节装置，其特征在于，所述可见激光测距仪通过二轴调节架固定在调节架上部，调节架固定在螺杆上，二轴调节架用于调节俯仰与偏摆，调节架为现有升降杆。