[实用新型]一种检测台及检测设备有效
申请号: | 202022865301.4 | 申请日: | 2020-12-03 |
公开(公告)号: | CN214539306U | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | 袁玲;周辉;苏芝旭;陈晓杰;周卫;尹建刚;宗文平;郝勤;高云峰 | 申请(专利权)人: | 大族激光科技产业集团股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N21/01 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 设备 | ||
本申请涉及液晶面板加工技术领域,特别涉及一种检测台及检测设备,包括:载物台,用于承载面板;发光组件,设置在相对于所述面板的一端,用于向面板发射光束;支撑组件,设于载物台上,用于支撑所述面板,并使面板的加工位置位于悬空状态。该检测台结构简单,可靠性高,可以有效地检测面板上是否残留有残留物。
技术领域
本申请涉及液晶面板加工技术领域,特别涉及一种检测台及检测设备。
背景技术
液晶面板在制作过程中,有一道端子短路环切除工序,要求将液晶面板表面上原有的金属导线镀层切断,但是切割道内不能存在残留的切除所产生的残留物,否则会对后续生产流程产生较大的影响。又因为残留在切割道内的残留物无法用肉眼识别,特别是切割黑色金属导线时所产生的残留物,所以需要有良好的检测系统对液晶面板的切割道内进行检测。现有检测系统是通过光照射在金属上,通过其反光,CCD相机拍照,再由明暗对比来甄别残留物,不够稳定可靠,特别针对是一些反光性较差的残留物,例如黑色或透明材质的残留物,无法很好地检测出来。
发明内容
为了克服现有技术的上述缺陷,本申请提供一种检测台及检测设备,以解决上述背景技术中所提出的问题。
本申请解决现有技术中的问题所采用的技术方案为:一种检测台及检测设备,包括:
载物台,用于承载面板;
发光组件,设置在相对于所述面板的一端,用于向面板发射光束;以及
支撑组件,设于载物台上,用于支撑所述面板并使面板的加工位置位于悬空状态。
进一步地,还包括吸附组件,所述吸附组件设置在支撑组件上,用于吸附支撑组件上所支撑的面板。
进一步地,所述发光组件包括一个或一个以上的光源、以及光源安装板,所述光源安装板设置在载物台上,并且所述光源安装板上铺设所述光源,以使所述光源所发射的光束可以均匀地照射在面板上。
进一步地,所述支撑组件包括一个或一个以上的支撑块,每一所述支撑块设置在载物台上,并且相邻支撑块之间留有间隔。
进一步地,所述支撑块的支撑面凸出所述光源设置,以使所述光源发射的光束能够到达面板的加工位置。
进一步地,所述吸附组件包括吸气孔和吸嘴,所述吸气孔贯穿设置在支撑块上,所述吸嘴与吸气孔连通。
一种检测设备,包括检测组件、移动组件、以及如上述任意一项所述的检测台,所述检测组件设置在相对于所述面板远离发光组件的另一端,用于获取面板的图像,所述移动组件分别与载物台和检测组件连接,用于驱动载物台和检测组件移动。
进一步地,所述检测组件包括一个或一个以上的CCD检测相机、以及相机安装板,所述 CCD检测相机安装在相机安装板上,并通过所述相机安装板与移动组件连接。
进一步地,所述移动组件包括X轴平移机构、Y轴平移机构和Z轴升降机构,所述X轴平移机构与所述载物台连接,驱动所述载物台沿X轴方向移动,所述Z轴升降机构设置在Y轴平移机构上,并且所述Z轴升降机构的驱动端与相机安装板连接,以使所述相机安装板可带动CCD检测相机沿Y轴方向和Z轴方向移动。
进一步地,所述X轴平移机构包括X轴导轨和X轴滑块,所述载物台通过X轴滑块活动设置在X轴导轨上,所述Y轴平移机构包括Y轴导轨和Y轴滑块,所述Z轴升降机构通过 Y轴滑块活动设置在Y轴导轨上。
与现有技术相比,本申请具有以下技术效果:
本申请提供一种检测台及检测设备,通过在相对于面板的一端设置发光组件,相对于面板远离发光组件的另一端设置检测组件,可通过检测组件所获取的图像判断面板上是否残留有加工所留下的残留物,该检测台结构简单,并且可靠性高。
附图说明
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