[实用新型]一种摄像头模组射频干扰测试系统

说明书

本实用新型实施例提供的一种摄像头模组射频干扰测试系统，包括：点亮装置、探头和频谱分析装置；探头与所述频谱分析装置连接，探头靠近所述点亮装置活动设置；点亮装置，用于安装待测试的摄像头模组，并按照预设点亮条件驱动所述摄像头模组；探头，用于采集摄像头模组的辐射信号；频谱分析装置，用于对辐射信号进行分析。本实用新型摄像头模组射频干扰测试系统能够有效且准确的对摄像头模组单体进行射频干扰的测试。

技术领域

本实用新型涉及摄像头模组测试技术领域，具体而言，涉及一种摄像头模组射频干扰测试系统。

背景技术

摄像头模组工作时，主时钟和内部系统时钟会发出高低频率的电磁波。当手机天线所接收的信号频率非常接近此电磁波频率时，此时摄像头模组工作所产生的电磁波就会对通讯造成干扰。因此，手机生产需要满足相应的射频干扰标准，以使这种干扰降到最小。目前业内一般都是将摄像头模组装进手机后，对整机进行通讯干扰测试。如果摄像头模组的辐射干扰无法解决，且前期已经进行了小批量生产，此时再进行修改会造成较大的经济损失并导致研发周期的延长。

因此，目前如何更好的对摄像头模组进行射频干扰的测试，以避免造成大量经济损失和延长研发周期成为了亟待解决的问题。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型实施例的目的在于提供一种摄像头模组射频干扰测试系统，能够有效且准确的对摄像头模组单体进行射频干扰的测试。

本申请通过一实施例提供如下技术方案：

一种摄像头模组射频干扰测试系统，包括：用于安装待测试的摄像头模组并按照预设点亮条件驱动所述摄像头模组的点亮装置，探头和频谱分析装置；所述探头与所述频谱分析装置连接，所述探头靠近所述点亮装置活动设置。

可选的，所述点亮装置包括：滑轨、连接结构和点亮工装，所述滑轨环绕设置在所述点亮工装外侧，所述探头通过所述连接结构与所述滑轨活动连接。

可选的，所述滑轨为方形、圆形或椭圆形。

可选的，所述连接结构包括杆体和滑动底座，所述探头设置在所述杆体上，所述杆体与所述滑动底座连接，所述滑动底座与所述滑轨滑动和/或转动连接。

可选的，所述杆体为螺杆，所述探头与所述螺杆螺纹连接。

可选的，所述点亮装置还包括：转动轴，所述点亮工装设置在所述转动轴上。

可选的，所述转动轴连接在所述滑轨上。

可选的，还包括：屏蔽外壳，所述点亮装置和所述探头均设置在所述屏蔽外壳内。

可选的，还包括上位机，所述上位机与所述点亮装置连接。

可选的，所述频谱分析装置包括频谱仪和放大器，所述频谱仪与所述放大器连接，所述放大器与所述探头连接。

本实用新型实施例中提供的一种摄像头模组射频干扰测试系统，其中探头与频谱分析装置连接，探头靠近点亮装置布置；通过安装待测试的摄像头模组，并按照预设点亮条件驱动摄像头模组，以便模拟手机使用时的实际情况；进一步的，探头的位置靠近点亮装置活动设置，可设置在手机整机的天线位置，实现摄像头模组周围不同的天线位置的辐射信号采集。本实用新型实施例的摄像头模组射频干扰测试系统能够有效且准确的对摄像头模组单体进行射频干扰的测试，将摄像头模组对手机的射频干扰控制在生产整机前，极大的降低了研发风险缩短了研发周期。

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明