[实用新型]一种基于嵌入式的晶体管IDVG/IDVD测试系统

说明书

本实用新型涉及晶体管技术领域，且公开了一种基于嵌入式的晶体管IDVG/IDVD测试系统，包括SMU模块、电源模块和主控芯片模块，所述SMU模块的输出端与主控芯片模块的输入端电信号连接，所述主控芯片模块的输出端与SMU模块的输入端电信号连接，通过发送指令使得SMU模块读取外部电压电流，并将返还的数据进行实时处理，同时令电源模块输出相应的电压电流进行限流处理，使得数据传输具有高度的同步性，高精度：数据处理具有高精度，低时延的特性，速度快：能都进行快速的测试，同时配合32位ARM处理器的指令，使得数据能够在进行高精度处理的工程中，实时的反映晶体管的IDVG/IDVD特性，限流大：更高的漏电电流限流处理，能够更好的体现晶体管特性。

技术领域

本实用新型涉及晶体管技术领域，具体为一种基于嵌入式的晶体管IDVG/IDVD测试系统。

背景技术

IDVG/IDVD测试应用面广泛，传感器、材料和微电子领域均有涉及。传统晶体管IDVG/IDVD测试需要依赖大型半导体参数分析仪设备。这些晶体管通常对电压电流等测量条件均有一定依赖性和相关性，传统IDVG/IDVD测试测量耗时长且无法实时精确测量其相关特性，且对漏电电流限制较小，无法满足测试要求。

为了解决这一存在的IDVG/IDVD测试问题，我们产生了基于嵌入式的晶体管IDVG/IDVD测试系统的想法，我们的实行方案是用一种基于嵌入式的晶体管IDVG/IDVD测试系统，包括采用SMU模块、电源模块和主控芯片模块，使得能够更快、更高精度的实时处理数据，并且能够以较大电流进行限流处理，完成晶体管IDVG/IDVD更准确的测试功能，也是本实用新型的重点。

基于上述考虑，发明一种基于嵌入式的晶体管IDVG/IDVD测试系统，不仅可以更快速，更准确，能对数据进行实时处理，且能以更大电流进行限流处理，更好的完成晶体管IDVG/IDVD测试功能。

实用新型内容

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种基于嵌入式的晶体管IDVG/IDVD测试系统，包括SMU模块、电源模块和主控芯片模块，所述SMU模块的输出端与主控芯片模块的输入端电信号连接，所述主控芯片模块的输出端与SMU模块的输入端电信号连接，所述电源模块的输出端与主控芯片模块的输入端电连接。

作为优化，所述主控芯片模块使用的是以STM32系列为芯片的MCU主控芯片模块，功能强大且低功耗，通过发送指令使得SMU模块读取外部电压电流，并将返还的数据进行实时处理，同时令电源模块输出相应的电压电流进行限流处理，使得数据传输具有高度的同步性，数据处理具有高精度，低时延的特性，大大加快了测试速度，同时配合32位ARM处理器的指令，使得数据能够在进行高精度处理的工程中，实时的反映晶体管的IDVG/IDVD特性。

作为优化，所述电源模块为具有可编程的直流电源，且电源模块接收主控芯片的指令并输出相应的电压及电流，并对外部电路进行限流处理。

作为优化，所述SMU模块为可编程且精度高的电流电压采集模块，且SMU模块接收主控芯片的指令并对外部电压电流进行数据工作并返回给主控芯片数据。

作为优化，数据能够实时、快速以及高精度处理。

作为优化，测试方法能对晶体管实时特性以及漏电电流进行限流处理。

本实用新型的有益效果是：通过发送指令使得SMU模块读取外部电压电流，并将返还的数据进行实时处理，同时令电源模块输出相应的电压电流进行限流处理，使得数据传输具有高度的同步性，高精度：数据处理具有高精度，低时延的特性。速度快：能都进行快速的测试，同时配合32位ARM处理器的指令，使得数据能够在进行高精度处理的工程中，实时的反映晶体管的IDVG/IDVD特性，限流大：更高的漏电电流限流处理，能够更好的体现晶体管特性。

附图说明

图1为本实用新型系统示意图。

具体实施方式