[实用新型]一种基于嵌入式的两端口电压电流测试系统

说明书

本实用新型涉及电压电流测试系统技术领域，且公开了一种基于嵌入式的两端口电压电流测试系统，包括ADC模块、DAC模块、电源模块、可变电阻模块、显示模块和主控芯片模块，该基于嵌入式的两端口电压电流测试系统，通过发送指令使得ADC模块读取外部电压，并将返还的数据进行实时处理，同时令电源模块以及DAC模块输出相应的电压电流进行限流处理，24位ADC使得测量结果具有高精度的电压数据，同时配合32位ARM处理器的指令，通过两端口得到的ADC数据与电阻模块的数据，得到具体两端口高精度电流值，8路继电器与8个电阻切换组成的多电阻切换单元，电流范围能够进行宽广测量，进而达到了更快更高精度的实时处理数据且两端口I‑V特性测量简单化的效果。

技术领域

本实用新型涉及电压电流测试系统技术领域，具体为一种基于嵌入式的两端口电压电流测试系统。

背景技术

电压电流测试(I-V测试)应用面广泛，在器件、材料、半导体、有源/无源元器件或几乎任何其他类型的电子器件领域均有涉及，传统I-V测试需要依赖大型半导体参数分析仪或半导体器件分析仪设备，这些器件通常对电压电流等测量条件均有一定依赖性和相关性，传统I-V测试测量耗时长且无法实时精确测量其相关特性，电流量程窄，无法准确测量宽范围电压电流特性，为了解决这一存在的电压电流测试问题，我们产生了基于嵌入式的两端口电压电流测试系统的想法，我们的实行方案是用一种基于嵌入式的两端口电压电流测试系统，包括采用ADC模块、DAC模块、电源模块、可变电阻模块、显示模块和主控芯片模块，使得能够更快、更高精度的实时处理数据，并且能够以更加简单化的测量两端口的I-V特性，更大范围的电流特性测量，得到更准确的I-V特性曲线。

基于上述考虑，故而我们提出了一种基于嵌入式的两端口电压电流测试系统，其具有更快更高精度的实时处理数据且两端口I-V特性测量简单化的优点，来解决以上的问题。

实用新型内容

为实现上述更快更高精度的实时处理数据且两端口I-V特性测量简单化的目的，本实用新型提供如下技术方案：一种基于嵌入式的两端口电压电流测试系统，包括ADC模块、DAC模块、电源模块、可变电阻模块、显示模块和主控芯片模块，所述ADC模块与主控芯片模块双向信号连接，所述主控芯片模块输出端与DAC模块输入端信号连接，所述DAC模块输出端与主控芯片模块输入端电连接，所述主控芯片模块输出端与显示模块输入端信号连接，所述电源模块输出端与可变电阻模块输入端电连接，所述可变电阻模块输出端与主控芯片模块输入端电连接。

作为优化，所述主控芯片模块使用的是以STM32F407为芯片的MCU主控芯片模块。

作为优化，所述电源模块为具有可编程的直流电源。

作为优化，所述ADC模块为24bit的高精度ADC。

作为优化，所述DAC模块为8bit的快速DAC。

作为优化，所述可变电阻模块为继电器组成的多电阻切换单元。

作为优化，所述显示模块用于实时显示测算参数以及电压电流数据。

本实用新型的有益效果是：

该基于嵌入式的两端口电压电流测试系统，通过发送指令使得ADC模块读取外部电压，并将返还的数据进行实时处理，同时令电源模块以及DAC模块输出相应的电压电流进行限流处理，24位ADC使得测量结果具有高精度的电压数据，同时配合32位ARM处理器的指令，通过两端口得到的ADC数据与电阻模块的数据，得到具体两端口高精度电流值，8路继电器与8个电阻切换组成的多电阻切换单元，电流范围能够进行宽广测量，使得数据能够在进行高精度处理的工程中，实时的反映两端口的I-V特性，进而达到了更快更高精度的实时处理数据且两端口I-V特性测量简单化的效果。

附图说明

图1为本实用新型系统示意图。

具体实施方式