[实用新型]基于仿真的晶体管IDVGIDVD测试系统

说明书

本实用新型涉及晶体管技术领域，且公开了基于仿真的晶体管IDVGIDVD测试系统，包括运放模块、待测晶体管、电阻模块、电源模块、AWG模块、电压探针、电流探针和示波器，所述待测晶体管的输出端与运放模块的输入端信号连接，所述电源模块的输出端与运放模块的输入端信号连接，所述运放模块的输出端与电阻模块的输入端信号连接，准确性：所有仿真数据来源于实际所存在的晶体管或者较理想且能更改的实验数据来源，通过修改实验参数，使得得到的结果更加接近真实晶体管特性，节约成本：通过基于仿真的晶体管IDVG/IDVD测试，能得到与真实晶体管符合的特性，不用担心击穿电流等损坏器件的影响，提高效率：通过基于仿真的晶体管IDVG/IDVD测试，提高晶体管设计与开发与生产效率。

技术领域

本实用新型涉及晶体管技术领域，具体为基于仿真的晶体管IDVGIDVD测试系统。

背景技术

电压电流测试(I-V测试)应用面广泛，在器件、材料、半导体、有源/无源元器件或几乎任何其他类型的电子器件领域均有涉及，传统I-V测试需要依赖大型半导体参数分析仪或半导体器件分析仪设备，这些器件在使用过程中由于设置参数不当或者施加电压过大等原因，导致漏电击穿待测器件，使得待测器件损坏造成被测电路损毁，造成严重的损失。

为了解决这一存在的测试问题，我们产生了基于仿真的晶体管IDVG/IDVD测试的想法，我们的实行方案是用基于仿真的晶体管IDVG/IDVD测试，包括采用运放模块、待测晶体管、电阻模块、电源模块、AWG模块、电压探针、电流探针和示波器，使得通过仿真的方案得到更为准确的测量器件参数，尽可能的避免器件烧毁，减少损失，同时基于仿真的晶体管IDVG/IDVD测试，也能为晶体管设计生产提供一种更为直观的参数设计方案，也是本实用新型的重点。

基于上述考虑，发明基于仿真的晶体管IDVG/IDVD测试，不仅能得到更为准确的测量器件参数，得到较为准确的IDVG/IDVD曲线，尽可能的避免器件烧毁，减少损失，同时基于此方案，也能为晶体管设计生产提供一种更为直观的参数设计方案。

实用新型内容

为实现上述得到更为准确的测量器件参数的目的，本实用新型提供如下技术方案：基于仿真的晶体管IDVGIDVD测试系统，包括运放模块、待测晶体管、电阻模块、电源模块、AWG模块、电压探针、电流探针和示波器，所述待测晶体管的输出端与运放模块的输入端信号连接，所述电源模块的输出端与运放模块的输入端信号连接，所述运放模块的输出端与电阻模块的输入端信号连接，所述电阻模块的输出端与电流探针模块的输入端信号连接，所述电压探针的输出端与电流探针的输入端信号连接，所述电流探针的输出端与AWG的输入端信号连接,所述AWG的输出端与示波器的输入端信号连接。

作为优化，被测晶体管端口采用三端或四端及更多端口器件。

作为优化，仿真模型来源于实际所存在的晶体管或者较理想且能更改的实验数据来源。

作为优化，所述的运放模块具有较大驱动电流且具有高反馈增益。

作为优化，所述的电阻模块具有高功率，高稳定性使得读取电流具有宽范围的特性。

作为优化，所述的电压探针能在任意电路中进行电压读数读取。

作为优化，所述的电流探针能在任意电路中进行电流读数读取，采用较大驱动电流且具有高反馈增益的运放模块使得固定电压更加稳定，更符合实际电路误差影响。

作为优化，所述的示波器能在任意电路，能对整个电路网络进行准确实时的IDVG及IDVD曲线读取。