[实用新型]一种短物距镜头测试治具

说明书

本实用新型公开了一种短物距镜头测试治具，其特征在于，该治具包括遮光主体，在所述遮光主体的内部的上端面设有一标准Chart；所述遮光主体的内部的下端面由上至下依次设置有镜头测试载台、成像芯片、物距微调平台以及滑台；其中，所述镜头测试载台的中心位置设有待测镜头槽；所述滑台底部设有开有一滑槽，所述滑槽内移动放置有滑轨。与现有技术相比，本实用新型通过在遮光主体的内部设有一可滑动的镜头测试载台，方便安装和拆卸待测镜头，可以解决微距镜头物距短，镜头取放操作困难的问题。

技术领域

本实用新型涉及光学光电技术领域，更具体的说是涉及一种短物距镜头测试治具。

背景技术

现有的微距镜头物距短，物距在1.5mm-3mm间，在如此短的距离下，镜头取放操作困难。

因此，如何提供一种可以解决上述问题的短物距镜头测试治具是本领域技术人员亟需解决的问题。

实用新型内容

本实用新型目的在于提供一种短物距镜头测试治具，其不仅具有结构简单，而且操作方便。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种短物距镜头测试治具，其特征在于，该治具包括遮光主体，在所述遮光主体的内部的上端面设有一标准Chart；所述遮光主体的内部的下端面由上至下依次设置有镜头测试载台、成像芯片、物距微调平台以及滑台；其中，所述镜头测试载台的中心位置设有待测镜头槽；所述滑台底部设有开有一滑槽，所述滑槽内移动放置有滑轨。

优选的，在上述一种短物距镜头测试治具中，在所述遮光主体的顶部中心位置上固定有一可见光光源，所述可见光光源下端电电连接有所述标准Chart。

优选的，在上述一种短物距镜头测试治具中，所述遮光主体的内侧底部开设有所述滑轨，所述滑台在所述滑轨上移动，且所述滑轨延伸出所述遮光主体一定距离。

优选的，在上述一种短物距镜头测试治具中，所述成像芯片与主控电脑和测试软件电连接。

经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本实用新型通过在遮光主体的内部设有一可滑动的镜头测试载台，方便安装和拆卸待测镜头，可以解决微距镜头物距短，镜头取放操作困难的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1附图为本实用新型的状态1结构示意图。

图2附图为本实用新型的状态2结构示意图。

图3附图为本实用新型的滑台的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅附图1、附图2、附图3，为本实用新型公开的一种短物距镜头测试治具，具体包括：遮光主体1，在所述遮光主体1的内部的上端面设有一标准Chart2；所述遮光主体1的内部的下端面由上至下依次设置有镜头测试载台3、成像芯片4、物距微调平台5以及滑台6；其中，所述镜头测试载台3的中心位置设有待测镜头槽31；所述滑台6底部设有开有一滑槽61，所述滑槽61内移动放置有滑轨7。

为了进一步优化上述技术方案，在所述遮光主体1的顶部中心位置上固定有一可见光光源8，所述可见光光源下端电电连接有所述标准Chart。