[实用新型]像素电路和发光装置、以及显示屏

说明书

本实用新型涉及一种像素电路和发光装置、以及显示屏，像素电路包括：切换电路、第一发光单元、第二发光单元和控制电路，其中：所述切换电路的一端连接所述控制电路和电源端；所述切换电路的另一端连接所述第一发光单元和所述第二发光单元；其中，在初始状态时，所述切换电路与所述第一发光单元处于常开状态，所述切换电路与所述第二发光单元处于常断状态；在异常发光状态时，所述切换电路与所述第一发光单元由所述常开状态切换为常断状态，所述切换电路与所述第二发光单元由所述常断状态切换为常开状态。通过本实用新型，可以解决相关技术中发光单元坏点的修复效率较低的技术问题。

技术领域

本实用新型涉及光电技术领域，尤其涉及一种像素电路和发光装置、以及显示屏。

背景技术

相关技术中，由于显示器中存在坏点，从而导致显示器存在成像缺陷进而影响其成像质量。例如发光单元为微型发光二极管(Micro-LED)，散热、老化等原因通常会导致Micro-LED故障，从而出现Micro-LED缺陷晶粒(即坏点)，进而导致显示器成像缺陷。随着Micro-LED巨量转移技术迅速发展，在百万级甚至千万级的芯片中对坏点进行检测修复是一大挑战，并且在通过检测技术挑出Micro-LED缺陷晶粒之后，如何有效维修并替换坏点LED也是Micro-LED显示领域中的关键技术。

相关技术中，通常采用图1中所示的方式进行Micro-LED坏点的修复。如图1所示，LED键合位置会做冗余设计，当键合上去的LED被检测为坏点时，采用镭射的方式切断该LED的连接电路，使其不能再对整体的电路产生影响，后续在备用位置键合新的LED，完成修复动作。然而，采用镭射的方式切断坏点的连接电路，容易伤及背板其他器件及线路，并且出现坏点后需要在备用位置逐一重新键入LED，因此工艺难度较大、效率低。

针对相关技术中，发光单元坏点的修复效率较低的技术问题，尚未提出有效的解决方案。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足，本申请的目的在于提供一种像素电路和发光装置、以及显示屏，旨在解决发光单元坏点的修复效率较低的技术问题。

本申请提供了一种像素电路，包括：切换电路、第一发光单元、第二发光单元和控制电路，其中：所述切换电路的一端连接所述控制电路和电源端；所述切换电路的另一端连接所述第一发光单元和所述第二发光单元；其中，在初始状态时，所述切换电路与所述第一发光单元处于常开状态，所述切换电路与所述第二发光单元处于常断状态；在异常发光状态时，所述切换电路与所述第一发光单元由所述常开状态切换为常断状态，所述切换电路与所述第二发光单元由所述常断状态切换为常开状态。

可选地，所述切换电路包括第一开关单元和第二开关单元，所述第一开关单元的第一端连接所述电源端，所述第一开关单元的第二端连接所述第一发光单元，所述第一开关单元的控制端连接所述控制电路，其中；所述第二开关单元的第一端连接所述电源端，所述第二开关单元的第二端连接所述第二发光单元，所述第二开关单元的控制端连接所述控制电路。

可选地，所述第一开关单元包括第一薄膜晶体管，所述第二开关单元包括第二薄膜晶体管，所述第一发光单元包括第一微型发光二极管，所述第二发光单元包括第二微型发光二极管；所述第一薄膜晶体管的源极连接所述电源端，所述第一薄膜晶体管的漏极连接所述第一微型发光二极管，所述第一薄膜晶体管的栅极连接所述控制电路，所述第二薄膜晶体管的源极连接所述电源端，所述第二薄膜晶体管的漏极连接所述第二微型发光二极管，所述第二薄膜晶体管的栅极连接所述控制电路。

可选地，所述像素电路还包括：第一开关电路，所述第一开关电路位于所述电源端和所述第一开关单元之间，所述第一开关电路的第一端连接所述电源端，所述第一开关电路的第二端连接所述第一开关单元的第一端，所述第一开关电路的控制端连接扫描信号端，用于在所述扫描信号端的控制下处于导通状态，以及将所述电源端提供的电压输入至所述像素电路。