[实用新型]一种集合多种抗扰度测试标准的低频抗扰度综合测试装置

说明书

本实用新型提供一种集合多种抗扰度测试标准的低频抗扰度综合测试装置，包括装置本体，装置本体上设有带多个仪器输出接口的仪器输出器，装置本体上设置有MCU主控模块、显示屏、信号发生模块和信号测量模块；信号测量模块用于对信号发生模块输出信号的测量与监控，MCU主控模块通过开关切换控制电路控制仪器输出器上其中一个仪器输出接口与信号发生模块输出端连通。本实用新型MCU主控模块能控制信号发生模块输出多种抗扰度测试信号，在选取测试信号参数和标准后，MCU主控模块通过信号测量模块对信号测量与监控，同时MCU主控模块能根据用户设置自动切换对应的仪器输出接口导通来进行相应的信号测试输出，本实用新型装置极大的提高了测试的效率。

技术领域

本实用新型涉及电子测量技术领域，尤其涉及一种集合多种抗扰度测试标准的低频抗扰度综合测试装置，适用于各种电子设备的低频传导抗扰度测试、低频磁场抗扰度测试、工频磁场抗扰度测试。

背景技术

低频抗扰度测试可以测量电子设备承受不同类型电磁现象的能力，对于评估电子产品在各种使用环境下的EMC性能具有重要意义。由于电子设备在日常消费、军事、医疗、航空航天等各个领域的使用环境各不相同，对电子设备的低频抗扰度性能要求也各不相同，从而产生了种类繁多的低频抗扰度测试标准，每个标准对于要求发生的信号也各不相同，这就导致了每更换一个测试标准也许就要更换一个测量设备或者试验台。这样不仅测试成本高，而且测试效率也较低。

实用新型内容

本实用新型目的在于提供一种集合多种抗扰度测试标准的低频抗扰度综合测试装置。

为解决上述问题，本实用新型采用下述技术方案：

一种集合多种抗扰度测试标准的低频抗扰度综合测试装置，包括装置本体，其特征在于：装置本体上设置有MCU主控模块、显示屏、信号发生模块和信号测量模块；

所述MCU主控模块连接显示屏，用于提供人机交互；

所述信号发生模块至少包含一个直流及工频信号发生模块、低频信号发生模块与功放模块以及信号源切换电路；

所述低频信号发生模块发生信号经功放模块放大后输出至信号源切换电路，直流及工频信号发生模块发生信号输出至信号源切换电路；所述MCU主控模块控制所述信号源切换电路切换导通低频信号发生模块和直流及工频信号发生模块输出信号；所述MCU主控模块通过所述信号源切换电路控制低频信号发生模块和直流及工频信号发生模块切换导通输出信号。

所述信号测量模块用于对所述信号发生模块输出信号的测量与监控，其将测量结果传输到MCU主控模块并通过显示屏显示；

所述装置本体上设有带多个仪器输出接口的仪器输出器，仪器输出器通过一开关切换控制电路与信号发生模块输出端连接，开关切换控制电路与MCU主控模块连接，MCU主控模块通过人机交互接收信号指令后，通过开关切换控制电路控制仪器输出器上其中一个仪器输出接口与信号发生模块输出端连通。

如上所述一种集合多种抗扰度测试标准的低频抗扰度综合测试装置，其特征在于：所述信号测量模块包括电压/电流采样模块，电压/电流采样模块输出端通过信号测量电路与所述MCU主控模块连接，用于输出采样信号；电压/电流采样模块输入端与所述信号发生模块输出端之间有光耦隔离电路，用于对信号测量模块和信号发生模块进行隔离，避免了高压共模问题。

如上所述一种集合多种抗扰度测试标准的低频抗扰度综合测试装置，其特征在于：所述开关切换控制电路为继电器和IGBT开关电路。

本实用新型有益效果：本实用新型中MCU主控模块能控制信号发生模块输出多种抗扰度测试信号，通过人机交互，实现抗扰度测试信号参数和标准的选取；在选取测试信号参数和标准后，MCU主控模块通过信号测量模块对抗扰度测试信号测量与监控，同时MCU主控模块能根据用户设置参数以及测量标准自动切换对应的仪器输出接口导通来进行相应的信号测试输出，本实用新型装置极大的提高了测试的效率。

附图说明