[实用新型]用于测试双摄OIS摄像头的测试板

说明书

本实用新型公开了一种用于测试双摄OIS摄像头的测试板，包括PCB板和设置在PCB板上的测试电路，所述测试电路包括：用于处理数据的数据处理模块；用于检测被测双摄OIS摄像头的抖动角度的数据采集模块，该数据采集模块与数据处理模块电连接；用于与测试设备电连接的第一通讯接口，该第一通讯接口与数据处理模块电连接；用于与被测双摄OIS摄像头电连接的两个第二通讯接口，两个第二通讯接口分别与数据处理模块电连接；以及JTAG调试串口，该JTAG调试串口与数据处理模块电连接。本实用新型能够实现对将驱动和数据处理分开的双摄OIS摄像头进行防抖动性能的测试。

技术领域

本实用新型属于摄像头测试板技术领域，具体涉及一种用于测试双摄OIS摄像头的测试板。

背景技术

目前高端手机上有多个摄像头，每个摄像头负责不同的功能，超广角、景深、高像素和OIS防抖。现有OIS防抖摄像头模组由专用驱动处理模块驱动，该驱动处理模块将马达驱动和数据处理集成在一起，成本高。一颗OIS防抖摄像头需要一颗驱动处理模块，提高了手机成本。为了降低成本，发明人将双摄OIS摄像头（即包括两颗OIS防抖摄像头）的驱动和数据处理分开，双摄OIS摄像头使用普通驱动模块就可以，然后由一个数据处理模块（此部分可集成在手机主板上）来处理两颗OIS防抖摄像头的数据。但目前还没有针对此类双摄OIS摄像头进行测试的测试板。

因此，有必要开发一种新的用于测试双摄OIS摄像头的测试板。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种用于测试双摄OIS摄像头的测试板，能实现对将驱动和数据处理分开的双摄OIS摄像头进行防抖动性能的测试。

本实用新型所述的一种用于测试双摄OIS摄像头的测试板，所述测试电路包括：

用于处理数据的数据处理模块；

用于检测被测双摄OIS摄像头的抖动角度的数据采集模块，该数据采集模块与数据处理模块电连接；

用于与测试设备电连接的第一通讯接口，该第一通讯接口与数据处理模块电连接；

用于与被测双摄OIS摄像头电连接的两个第二通讯接口，两个第二通讯接口分别与数据处理模块电连接；

以及JTAG调试串口，该JTAG调试串口与数据处理模块电连接。

进一步，所述数据处理模块包括MCU、电容C1、电容C2、电容C3、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5和电阻R6；

所述MCU的型号为STM32G031G8U6，MCU的3脚经电容C1接地，电容C2和电容C1并联，MCU的4脚接地，MCU的5脚经电容C3接地，MCU的6脚经电阻R6接VDD，MCU的7脚经电阻R5接VDD，MCU的18脚经电阻R1接VDD，MCU的19脚经电阻R2接VDD，MCU的27脚经电阻R4接VDD，MCU的28脚经电阻R3接VDD。

进一步，所述数据采集模块采用陀螺仪、电容C4和电容C5，所述陀螺仪的型号为LSM6DS3TR-C，陀螺仪的1脚与MCU的12脚连接，陀螺仪的4脚与MCU的16脚连接，陀螺仪的5脚接VDD，陀螺仪的6脚经电容C4后与陀螺仪的8脚连接，电容C5和电容C4 并联，陀螺仪的12脚与MCU的14脚连接，陀螺仪的13脚与MCU的11脚连接，陀螺仪的14脚与MCU的13脚连接。

进一步，所述MCU的20脚和21脚分别JTAG调试串口连接。

本实用新型具有以下优点：本测试板能够实现对将驱动和数据处理分开的双摄OIS摄像头进行防抖动性能的测试。

附图说明

图1为本实施例的原理框图；

图2为本实施例中数据处理模块、数据采集模块和JTAG调试串口的连接电路图；

图3为本实施例的使用状态图；