[实用新型]一种可适配的PCB通孔测试工装

说明书

本实用新型实例提供了一种可适配的PCB通孔测试工装，其中，PCB适配板中PCB通孔的排列方式与待测控测试平台中PCB板上的测量孔的排列方式对应，弹簧针插入PCB适配板上的PCB通孔；PCB固定底座中放置并固定主控测试平台的PCB模块，上盖板中设置有适配板固定槽位；上盖板与PCB固定底座对盒安装，使得PCB适配板上的弹簧针一一对应的垂直插入PCB模块的PCB测试孔。本实用新型根据PCB通孔位置的不同或测试孔径的不同进行适配和组合测试，操作简单，能够保证测试可靠性、准确性、稳定性，确保测试过程不会因为手动按压弹簧针使信号测试错位，影响产品性能，具有良好的通用性和推广应用价值。

技术领域

本实用新型涉及但不限于计算机测试技术领域，尤指一种可适配的PCB通孔测试工装。

背景技术

参考图1所示某种主控测试平台的测试结构示意图。某种主控测试平台(即待测产品)的测试结构为：CPU模块、IO模块通过刚挠板相连，IO模块的出线刚挠板引出的PCB模块中需要测试、测量的信号孔如图1所示。

现有测试过程中，通过焊线引出PCB模块中的相应测试点进行测试，或者通过手动按压使得弹簧针与PCB测试孔对接，并且通过弹簧针与PCB测试孔的垂直接触来实现测试。上述测试方式中，焊线会影响某种主控测试平台的交付外观情况；通过手动按压对接弹簧针与PCB测试孔对接的测试方式，测试过程会因手按压的滑动导致被测产品(即主控测试平台)的测试信号异常，严重时导致被测产品故障。上述现有两种测试方式，均无法保证测试过程的可靠连接。

实用新型内容

本实用新型的目的是：本实用新型实施例提供一种可适配的PCB通孔测试工装，以解决现有测试方式，均无法保证测试过程中弹簧针与PCB测试孔的可靠连接，以及影响产品外观和导致被测产品故障等问题。

本实用新型的技术方案：

本实用新型实施例提供一种可适配的PCB通孔测试工装，包括：弹簧针1、 PCB适配板2、上盖板3、PCB固定底座4、适配板固定槽位7、链接转动轴9、PCB固定卡槽10；

其中，所述PCB适配板2中设置有PCB通孔，所述PCB通孔的排列方式与待测控测试平台中PCB板上的测量孔的排列方式对应，弹簧针1一一对应的插入PCB适配板2上的PCB通孔，并固定在PCB适配板2上；

所述PCB固定底座4中设置有PCB固定卡槽10，用于放置并固定主控测试平台的PCB模块，上盖板3中设置有适配板固定槽位7，用于安装并固定装配有弹簧针1的PCB适配板2；

所述上盖板3与PCB固定底座4对盒安装，使得PCB适配板2上的弹簧针1一一对应的垂直插入PCB模块的PCB测试孔。

可选地，如上所述的可适配的PCB通孔测试工装中，还包括：链接转动轴 9和转轴销；

链接转动轴9包括：设置于上盖板3的单耳孔，设置于PCB固定底座4、的双耳孔，所述转轴销插入上盖板3的单耳孔和PCB固定底座4的双耳孔，以活动连接上盖板3与PCB固定底座4，并使其在同一平面实现120度转动。

可选地，如上所述的可适配的PCB通孔测试工装中，还包括：锁定机构；

所述锁定机构，用于在通过上盖板3中的PCB适配板2上的弹簧针1垂直插入PCB固定底座4中PCB模块的PCB测试孔后，锁定上盖板3与PCB固定底座4，从而使得弹簧针1与PCB测试孔稳定对接。

可选地，如上所述的可适配的PCB通孔测试工装中，所述锁定机构包括：锁钉5、“L”型的锁钩6、锁钉安装座8、锁扣11；

其中，锁钉安装座8设置于上盖板3单耳孔的对侧，锁扣11设置于PCB 固定底座4双耳孔的对侧，锁钉5穿过锁钩6上端通孔安装在对应的锁钉安装座8上，锁钩6以锁钉5中轴转动，并插入锁扣11内。